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デスクトップ型膜厚計 XANシリーズ-エフ・アイ・テック株式会社

この製品について

■特徴

・操作が簡単。金および貴金属でもっとも重要な機能を備えることによる最適な価格と性能。 ・下から上へ測定することにより、サンプルを簡単に位置決め可能 ・柔軟性:各分野の典型的な要件に対して多様にカスタマイズ ・非破壊方式の膜厚測定および素材分析

■用途

膜厚測定 ・数nmレンジの薄さの貴金属皮膜 ・ファッションジュエリー:ニッケル材料の代替品として使用される現代的な多層構造の分析素材分析 ・金製のジュエリー、時計、コインの組成および純度を測定 ・貴金属合金の組成の分析 ・ラボ、試験機関、大学での一般的な素材分析

  • 型番

    XAN

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デスクトップ型膜厚計 XANシリーズ XANの性能表

商品画像 価格 (税抜) 測定方式
デスクトップ型膜厚計 XANシリーズ-品番-XAN 要見積もり 蛍光X線

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膜厚計をフィルターから探すことができます

測定範囲 μm

0 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 5,000 5,000 - 10,000 10,000 - 10,000,000

測定方式

電磁誘導式/渦電流式 電磁式 渦電流式 光熱放射法 超音波式 静磁気式 4探針電気抵抗式 電解式 蛍光X線 微小面積電解式 パルス反射式

測定精度 μm

0 - 5 5 - 10 10 - 20 20 - 60 60 - 100 100 - 250

分解能 μm

0 - 1 1 - 100

データメモリ数 点

1,000 - 10,000 10,000 - 40,000 40,000 - 260,000 260,000 - 2,000,000

質量 g

0 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 10,000 10,000 - 90,000

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

エフ・アイ・テック株式会社は、1968年に創業した、測定機器や潤滑剤の販売をしている会社です。 主な事業内容は、測定機器の販売です。ドイツにあるフィッシャー社の製品を中心に、ポケットサイズ、ハンディタイプ、蛍光X線方式...

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  • 本社所在地: 東京都

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