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光干渉膜厚計 HE3224-株式会社豊伸電子

HE3224 | 光干渉膜厚計 HE3224
株式会社豊伸電子

全型番で同じ値の指標

測定範囲

100nm~2,000nm

測定層数

単層

測定方法

可視分光方

精度

1nm

誤差

0.5nm

使用電源

5V (USB)

参考値

494.14nm (494.19nmサンプル測定) ,82.21nm (82.24nmサンプル測定)

品名

光干渉膜厚計

この製品について

シリコンウエハなど透明の薄膜を光の干渉を利用して高精度に測定します。

■内容

・測定ヘッド1台 ・測定 台1台 ・分光器1台 ・分光器～ヘッド間光ファイバー1本 ・USBケーブル1本 (1m) ・制御ソフト (Windows7以上) ※本製品には制御PCは付属していません

■オプション

・光源 (タングステンハロゲン20W以上) ・光源～ヘッド間光ファイバー (1m)

  • 型番

    HE3224

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無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
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光干渉膜厚計 HE3224 HE3224の性能表

商品画像 価格 (税抜) 測定範囲 測定層数 測定方法 精度 誤差 使用電源 参考値 品名
光干渉膜厚計 HE3224-品番-HE3224 要見積もり 100nm~2,000nm 単層 可視分光方 1nm 0.5nm 5V (USB) 494.14nm (494.19nmサンプル測定) ,82.21nm (82.24nmサンプル測定) 光干渉膜厚計

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この商品の取り扱い会社情報

株式会社豊伸電子

会社概要

株式会社豊伸電子は、科学･理化学測定機器、電気機器･電子機器、光計測機器の機器や部品の製造から販売をしている会社です。 放射線測定器、光電子機器、制御システムボード、光ファイバー応用光学機器など、さまざまな製品を製造・...

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  • 本社所在地: 神奈川県
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