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写真現像、大型印刷、ファインアート、高速デジタル印刷など生産量の多い環境において、カラーテストチャートの測定はカラーマネージメントのプロファイルを常に維持するために不可欠な作業です。 i1iSis2はそのような労力を要する作業を容易にこなします。A4サイズのテストチャートを印刷し、i1iSis2で測定するだけで1,500ものパッチが処理され、測定データが8分以内に出力されます。
分光分析
測定アパーチャー
本体カラー
製品寸法 (奥行 / 幅 / 高さ)
ソフトウェア開発キット
用紙サイズ
蛍光増白剤補正 (OBC)
製品保証
接続方法
短期繰り返し精度 - ホワイト
0.1 DE*94 (D50, 2°)
器差
Average 0.4 DE*94 (deviation from X-Rite manufacturing standard at a temperature of 23°C on 12 BCRA tiles (D50, 2°) )
測定条件
M0, M1 & M2
光度測定範囲
10 nm; Sampling interval 3.5 nm (100 bands)
分光範囲
380 - 730 nm
分光レポート出力
10 nm
インターフェース
USB
型番
eois2取扱企業
エックスライト社カテゴリ
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商品画像 | 価格 (税抜) | 短期繰り返し精度 - ホワイト | 器差 | 測定条件 | 最少の用紙の厚さ | 光度測定範囲 | 分光分析 | 分光範囲 | 分光レポート出力 | 測定アパーチャー | 本体カラー | 製品寸法 (奥行 / 幅 / 高さ) | 重量 | インターフェース | 対象用途 | ソフトウェア開発キット | 用紙サイズ | キャリブレーション | 蛍光増白剤補正 (OBC) | 製品保証 | 同梱物 | 接続方法 |
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要見積もり | 0.1 DE*94 (D50, 2°) | Average 0.4 DE*94 (deviation from X-Rite manufacturing standard at a temperature of 23°C on 12 BCRA tiles (D50, 2°) ) | M0, M1 & M2 | Typical 0.16mm, Range: 0.08 to 0.45mm | 10 nm; Sampling interval 3.5 nm (100 bands) | i1® technology (holographic diffraction grating with diode array) | 380 - 730 nm | 10 nm | Effective measurement aperture during scanning is depending on the patch size | Silver / Black | Width 42 cm, depth 16 cm, height 12 cm (16.5 x 6.3 x 4.7 inches) | 3.2 kg (112.9 oz) | USB | Intermediate to Advanced | Available for OEM customers | A4+Width: 6 to 23 cm (2.4 to 9 in.) Length: 17 cm to 66 cm (6.7 to 26 in.) | Automatic on Internal Calibration Reference | Optical Brightener Compensation (OBC) with i1Profiler software | Twelve (12) months from the date of sale, unless different local regulations apply. Product registration is required to receive X-Rite technical support during the warranty period. Registration can occur directly through the software, on our website, or via phone. Users are encouraged to register their product within the first 30 days of use. | i1iSis 2 spectrophotometer; main power cable, USB cable | Powered USB port |
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