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閲覧履歴
光源
Violet LD
検出/走査方式
散乱光検出/螺旋走査方式
散乱光検出/螺旋走査方式
Bare 48 nm/Film 60nm
再現性
σ/X ≦1% (99%以上)
ウェハーサイズ
300/200、200/150mm (100mmはオプション)
測定対象
Bareウェハー/膜付きウェハー
大きさ (mm)
1,272 (W) ×1,213 (D) ×1,650 (H)
質量 (kg)
950
型番
WM-10シリーズ
ウェハー表面検査装置 WM-10取扱企業
入江株式会社カテゴリ
Metoree経由で見積もり
2025年9月16日にレビュー済み
顧客対応への満足度
早急な回答と確認事項、見積条件等安心して回答まで頂きました。
初回対応までの時間への満足度
0.06時間
Metoree経由で見積もり
2025年6月20日にレビュー済み
顧客対応への満足度
早急に対応して頂いて良かった。今後も利用したいと、おもった
初回対応までの時間への満足度
0.33時間
Metoree経由で見積もり
2024年12月13日にレビュー済み
顧客対応への満足度
当日返信、翌日に概算の見積もりをいただきました。
初回対応までの時間への満足度
13.76時間
Metoree経由で見積もり
2024年5月20日にレビュー済み
顧客対応への満足度
全体的に対応が迅速で、非常に好印象でした。
初回対応までの時間への満足度
0.65時間
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半導体外観検査装置の製品29点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 光源 | 検出/走査方式 | 散乱光検出/螺旋走査方式 | 再現性 | ウェハーサイズ | 測定対象 | 大きさ (mm) | 質量 (kg) |
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要見積もり | Violet LD | 散乱光検出/螺旋走査方式 | Bare 48 nm/Film 60nm | σ/X ≦1% (99%以上) | 300/200、200/150mm (100mmはオプション) | Bareウェハー/膜付きウェハー | 1,272 (W) ×1,213 (D) ×1,650 (H) | 950 |
半導体外観検査装置の中でこの商品と同じ値をもつ製品
使用用途が表面検査の製品
半導体外観検査装置をフィルターから探すことができます
使用用途
#欠陥検出 #ウェハ検査 #部品検査 #表面検査 #搬送収納 #高精度検査 #チップ検査 #2D3D測定対象工程
ウェハ検査装置 パッケージ外観検査装置 ダイシング後検査装置 ワイヤボンディング検査装置検査方式
2Dビジョン検査型 3D検査型対応サイズ・形状
小型チップ対応型 大判ウェハ対応型 立体部品・BGA対応型対応ウェーハサイズ mm
50 - 150 150 - 200 200 - 300マシンサイクルタイム pcs/sec
1 - 5 5 - 10 10 - 15画像処理部構成 台
2 - 4 4 - 8処理時間 個/分
0 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 5,000
