レーザーフラッシュフォトリシス | 分光計測ナノ秒～ミリ秒の過渡吸収計測システムレーザーフラッシュフォトリシス
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システム性能最小時間分解能

5 ns

システム性能最小測定時間ΔOD

< 0.01

Nd:YAGレーザー出力波長

1,064/532/355/266 nm

Nd:YAGレーザー出力エネルギー

180/120/40/25 mJ

Nd:YAGレーザーパルス幅

4~5 ns@532/355/266 nm

Nd:YAGレーザー繰返し周波数

1~15 Hz可変

光パラメトリック発信器 (OPO) -1

出力波長 220~415 nm (シグナル光SHG) 415~710 nm (シグナル光) 710~2,300 nm (アイドラ光)

光パラメトリック発信器 (OPO) -2

線幅：<5 cm-1

ICCD検出器検出波長域

180~850 nm

ICCD検出器最小ゲート幅

<5 ns

分光器焦点距離

350 mm

分光器明るさ

f/3.8

分光器逆線分散

2.37 nm/mm

分光器グレーティング搭載枚数

分光器出力ポート数

参照先用光源光源

パルスまたはCW Xeランプ

参照先用光源出力波長

180~2,000 nm (パルスXe)

光学系シャッター (PC制御)

励起光源および参照光用

光学系励起エネルギー出力調整

可変アッテネーター

光学系サンプル

液体および固体

制御・解析装置制御機能

ICCD検出器、分光器、シャッター

制御・解析装置計測機能

過渡吸収スペクトル計測時間分解蛍光スペクトル計測

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この製品について

■製品概要本システムは、ナノ秒レーザーによって励起されたサンプルのナノ秒～ミリ秒オーダーの過渡吸収スペクトルおよび蛍光スペクトルを計測する装置です。本装置により、電子励起状態の緩和過程、光イオン化、光解離、光異性化、酸化還元反応など、光によって引き起こされるナノ秒時間スケールの高速過程の情報を得ることができます。

■特長・最小時間分解能 5ns
・最小測定可能 ΔOD <0.01
・OPOにより紫外～可視域まで広範囲な励起波長に対応可
・自動時間分解吸収・発光スペクトル測定
・液体と固体のサンプルに対応可、反射・透過配置対応可
・用途に合わせたカスタムシステム対応可

■用途・光化学反応物質の反応機構解析
・太陽電池・燃料電池デバイスの解析
・光応答性材料の開発

型番
レーザーフラッシュフォトリシス

シリーズ
分光計測ナノ秒～ミリ秒の過渡吸収計測システムレーザーフラッシュフォトリシス

取扱企業
株式会社東京インスツルメンツ

カテゴリ

アナライザ

光スペクトラムアナライザ

アナライザ

分光分析装置

メーター・計測機器

分光測定器

測定機器

分光蛍光光度計

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2025年7月9日にレビュー済み

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分光計測ナノ秒～ミリ秒の過渡吸収計測システムレーザーフラッシュフォトリシスレーザーフラッシュフォトリシスの性能表

商品画像	価格 (税抜)	システム性能最小時間分解能	システム性能最小測定時間ΔOD	Nd:YAGレーザー出力波長	Nd:YAGレーザー出力エネルギー	Nd:YAGレーザーパルス幅	Nd:YAGレーザー繰返し周波数	光パラメトリック発信器 (OPO) -1	光パラメトリック発信器 (OPO) -2	ICCD検出器検出波長域	ICCD検出器最小ゲート幅	分光器焦点距離	分光器明るさ	分光器逆線分散	分光器グレーティング搭載枚数	分光器出力ポート数	参照先用光源光源	参照先用光源出力波長	光学系シャッター (PC制御)	光学系励起エネルギー出力調整	光学系サンプル	制御・解析装置制御機能	制御・解析装置計測機能
	要見積もり	5 ns	< 0.01	1,064/532/355/266 nm	180/120/40/25 mJ	4~5 ns@532/355/266 nm	1~15 Hz可変	出力波長 220~415 nm (シグナル光SHG) 415~710 nm (シグナル光) 710~2,300 nm (アイドラ光)	線幅：<5 cm-1	180~850 nm	<5 ns	350 mm	f/3.8	2.37 nm/mm	4	2	パルスまたはCW Xeランプ	180~2,000 nm (パルスXe)	励起光源および参照光用	可変アッテネーター	液体および固体	ICCD検出器、分光器、シャッター	過渡吸収スペクトル計測時間分解蛍光スペクトル計測