制御・計測・センシング
駆動・機械要素・電子制御部品
産業別カテゴリ
電源・エネルギー・熱処理機器
安全・保護・環境対策
材料・素材・ケミカル
電気・電子部品
構造部品・締結要素
ソフトウェア・ネットワーク
サービス
その他
全てのカテゴリ
閲覧履歴
返答率
100.0%
返答時間
22.1時間
システム性能 最小時間分解能
5 ns
システム性能 最小測定時間ΔOD
< 0.01
Nd:YAGレーザー 出力波長
1,064/532/355/266 nm
Nd:YAGレーザー 出力エネルギー
180/120/40/25 mJ
Nd:YAGレーザー パルス幅
4~5 ns@532/355/266 nm
Nd:YAGレーザー 繰返し周波数
1~15 Hz可変
光パラメトリック発信器 (OPO) -1
出力波長 220~415 nm (シグナル光SHG) 415~710 nm (シグナル光) 710~2,300 nm (アイドラ光)
光パラメトリック発信器 (OPO) -2
線幅：<5 cm-1
ICCD検出器 検出波長域
180~850 nm
ICCD検出器 最小ゲート幅
<5 ns
分光器 焦点距離
350 mm
分光器 明るさ
f/3.8
分光器 逆線分散
2.37 nm/mm
分光器 グレーティング搭載枚数
4
分光器 出力ポート数
2
参照先用光源 光源
パルスまたはCW Xeランプ
参照先用光源 出力波長
180~2,000 nm (パルスXe)
光学系 シャッター (PC制御)
励起光源および参照光用
光学系 励起エネルギー出力調整
可変アッテネーター
光学系 サンプル
液体および固体
制御・解析装置 制御機能
ICCD検出器、分光器、シャッター
制御・解析装置 計測機能
過渡吸収スペクトル計測 時間分解蛍光スペクトル計測
型番
レーザーフラッシュフォトリシス取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
もっと見る
分光分析装置の製品170点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
| 商品画像 | 価格 (税抜) | システム性能 最小時間分解能 | システム性能 最小測定時間ΔOD | Nd:YAGレーザー 出力波長 | Nd:YAGレーザー 出力エネルギー | Nd:YAGレーザー パルス幅 | Nd:YAGレーザー 繰返し周波数 | 光パラメトリック発信器 (OPO) -1 | 光パラメトリック発信器 (OPO) -2 | ICCD検出器 検出波長域 | ICCD検出器 最小ゲート幅 | 分光器 焦点距離 | 分光器 明るさ | 分光器 逆線分散 | 分光器 グレーティング搭載枚数 | 分光器 出力ポート数 | 参照先用光源 光源 | 参照先用光源 出力波長 | 光学系 シャッター (PC制御) | 光学系 励起エネルギー出力調整 | 光学系 サンプル | 制御・解析装置 制御機能 | 制御・解析装置 計測機能 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
要見積もり | 5 ns | < 0.01 | 1,064/532/355/266 nm | 180/120/40/25 mJ | 4~5 ns@532/355/266 nm | 1~15 Hz可変 |
出力波長 220~415 nm (シグナル光SHG) 415~710 nm (シグナル光) 710~2,300 nm (アイドラ光) |
線幅：<5 cm-1 | 180~850 nm | <5 ns | 350 mm | f/3.8 | 2.37 nm/mm | 4 | 2 | パルスまたはCW Xeランプ | 180~2,000 nm (パルスXe) | 励起光源および参照光用 | 可変アッテネーター | 液体および固体 | ICCD検出器、分光器、シャッター |
過渡吸収スペクトル計測 時間分解蛍光スペクトル計測 |
分光分析装置をフィルターから探すことができます
返答率
100.0%
返答時間
22.1時間
