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■概要 被試験物を回転させながら形状や各部の寸法を測定する。基準値と比較して良否判定をする。 ■特徴 フィルム越しにIC画像を撮りこみ、フィルム自身のしわやキズは無視して検査する。 ■開発範囲 リール巻き取り装置、ハードウェア、制御ソフトウェア、画像処理ソフトの開発一式 ■用途 ・検査ラインでの外観検査 ・不良解析
型番
IC外観検査装置取扱企業
株式会社ペリテックカテゴリ
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