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返答率
100.0%
返答時間
26.4時間
Zスキャナ スキャン範囲
15μm (オプションにて30μm)
Zスキャナ ハイト (高さ) ノイズレベル
30pm、0.5kHz bandwidth/rms (typical)
XYスキャナ スキャン範囲
100µm×100µm
Zステージ駆動距離
25mm (電動)
フォーカスステージ駆動範囲
8mm (電動)
XYステージ駆動範囲
300mmx300mm (電動)
サンプル サイズ
100,150,200,300 mm ウェハー、小型サンプル マグネットサンプルホルダー、厚さ20mmまで
サンプル 重量
<500g
視野
840µm×630µm (10x対物レンズ使用の場合)
CCDピクセル
5Mピクセル
型番
NX20 300mm取扱企業
パーク・システムズ・ジャパン株式会社カテゴリ
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AFM (原子間力顕微鏡) の製品62点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | Zスキャナ スキャン範囲 | Zスキャナ ハイト (高さ) ノイズレベル | XYスキャナ スキャン範囲 | Zステージ駆動距離 | フォーカスステージ駆動範囲 | XYステージ駆動範囲 | サンプル サイズ | サンプル 重量 | 視野 | CCDピクセル |
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要見積もり | 15μm (オプションにて30μm) | 30pm、0.5kHz bandwidth/rms (typical) | 100µm×100µm | 25mm (電動) | 8mm (電動) | 300mmx300mm (電動) | 100,150,200,300 mm ウェハー、小型サンプル マグネットサンプルホルダー、厚さ20mmまで | <500g | 840µm×630µm (10x対物レンズ使用の場合) | 5Mピクセル |
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使用用途がナノスケール観察の製品
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使用用途
#インデンテーション試験 #スクラッチ試験 #ナノスケール観察 #機械特性評価 #生体材料評価 #赤外分光分析 #電気伝導評価 #粘弾性測定 #表面トポグラフィー #摩擦摩耗評価最大荷重 mN
0 - 10,000 10,000 - 100,000 100,000 - 1,100,000深さ分解能 nm
0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1 1 - 1.1荷重分解能
0 - 1 1 - 5 5 - 20 20 - 25深さノイズフロア nm
0 - 0.1 0.1 - 0.5 0.5 - 1 1 - 2荷重速度 N/min
1 - 10 10 - 100 100 - 300返答率
100.0%
返答時間
26.4時間
