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ブルカージャパンの半導体検査装置3製品中の注目ランキング
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■化合物半導体の品質管理用XRD装置 Bruker QC3 / QC-Velox装置は産業用のXRD装置として専用に設計されています。試料ステージは平置きを採用しておりますので...
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■パターンウェハのメタル膜厚・組成評価用高速XRP&XRF測定 Bruker Sirius RF-Tは既に世界の多くのファブでご使用頂いておりますJVX 7300RF-Tの後継機種で、微...
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■ノッチやベベルの欠陥を自動で検出 X線トポグラフィ―装置 Bruker JV Sensusはファブ用X線トポグラフィー装置です。近年のシリコン基板に対する深堀トレンチ...
