ブルカージャパンの半導体検査装置
ブルカージャパンの半導体検査装置注目ランキング
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3 点の製品がみつかりました
ブルカージャパン株式会社
化合物半導体の組成・膜厚の生産管理用 XRD装置 QC3 / QC-Velox
170人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
■化合物半導体の品質管理用XRD装置 Bruker QC3 / QC-Velox装置は産業用のXRD装置として専用に設計されています。試料ステージは平置きを採用しておりますので...
ブルカージャパン株式会社
パターンウエハのメタル膜厚・組成評価用、高速XRR & XRF測定装置 Sirius RF-T
100人以上が見ています
最新の閲覧: 1日前
■パターンウェハのメタル膜厚・組成評価用高速XRP&XRF測定 Bruker Sirius RF-Tは既に世界の多くのファブでご使用頂いておりますJVX 7300RF-Tの後継機種で、微...
ブルカージャパン株式会社
ノッチやベベルの欠陥を自動で検出 X線トポグラフィ―装置 JV SENSUS
130人以上が見ています
■ノッチやベベルの欠陥を自動で検出 X線トポグラフィ―装置 Bruker JV Sensusはファブ用X線トポグラフィー装置です。近年のシリコン基板に対する深堀トレンチ...
