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#精密測定

#光学調整

#半導体検査

#顕微鏡観察

Zでの双方向再現性 nm

0 - 1

1 - 5

5 - 10

10 - 250

Z単位のシステム解像度 nm

0.5 - 0.8

0.8 - 1

Z単位の分解能 nm

0.2 - 0.4

0.4 - 0.6

Z単位の剛性 N/μm

1 - 2

2 - 3

3 - 4

Z単位の移動範囲 µm

50 - 100

100 - 200

回転範囲 mrad

0 - 50

ピーアイ・ジャパンの傾斜ステージ

15 点の製品がみつかりました

15 点の製品

ピーアイ・ジャパン株式会社

大口径で高いダイナミクス P-518 • P-528 • P-558 ピエゾZ /チップ/チルトステージ

2400人以上が見ています

最新の閲覧: 14分前

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■応用分野 ・度量衡 ・干渉計 ・フォトニクス/集積光学 ・リトグラフ ・ナノポジショニング ・走査型顕微鏡 ・サンプルアライメント ・...

9種類の品番


ピーアイ・ジャパン株式会社

A-60x.MTT マニュアル XY チップ/チルトプラットフォーム

1070人以上が見ています

最新の閲覧: 25分前

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A-60xおよびA-62xと互換性があります。 ■特徴 ・モーションプラットフォームの直径 75 〜 300 mm ・手動操作 ・4 自由度: X, Y, θX, θY...

5種類の品番


ピーアイ・ジャパン株式会社

高性能・クリーンルーム対応・薄型 A-523 PIglide エアベアリング付き高精度 Zチップ/チルトステージ

270人以上が見ています

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22.3時間 返答時間

■特徴 ・Z方向の移動範囲は±2.5mm ・回転範囲 θX、θY~±1° ・耐荷重8kgまで ・プラットフォーム直径250mm ・全高60mm ■概要 A-523はダ...


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