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ブルカージャパンのX線回折装置

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ブルカージャパン株式会社

化合物半導体の組成・膜厚の生産管理用 XRD装置 QC3 / QC-Velox

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■化合物半導体の品質管理用XRD装置 Bruker QC3 / QC-Velox装置は産業用のXRD装置として専用に設計されています。試料ステージは平置きを採用しておりますので...


ブルカージャパン株式会社

ウェーハの結晶欠陥を検出する X線トポグラフィー装置 JV QC-TT

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■結晶欠陥の可視化装置・X線トポグラフィー Bruker JV QCTT装置はX線回折イメージング (XRDI) 技術を用いて結晶欠陥検査を提供する包括的なソリューションで...


ブルカージャパン株式会社

全自動・多目的 薄膜分析用XRD 装置 JV-DX

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■全自動・多目的 薄膜分析用XRD 装置 Bruker JV-DX装置は薄膜X線分析に用いられるあらゆる測定手法を全自動でこなすことができる最新の装置です。入射光学系...


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