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11 点の製品
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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■研究開発を加速する次世代テクノロジー ・研究用AFM史上初のデュアルカメラシステムを採用 ・機械学習の採用による自動最適化機能 ■プ...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまで...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX7は、パーク・システムズの最先端技術を搭載し、上位モデル同様細部までこだわって設計されている最も経済的なAFMです。 ■クロ...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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Park NX20 300mmは、300mmX300mmのサイズの計測を完全自動化させた業界初の大型サンプル向け原子間力顕微鏡 (AFM) です。 故障解析や...
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FAエンジニアとして結果を見出すことが求められますが、機械によるエラーやミスは当然許されません。Park NX20は、世界で最も正確な大型...
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Park NX20 Liteは、多様な試料を扱う共同研究室、多変量解析やウェハーの故障解析に最適な多くの独自の機能を備えています。 また、リー...
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Park NX-Waferは、半導体および関連ファブリケーション向けの業界をリードする自動AFM測定システムです。 ウェハーファブの検査と解析...
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パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムで...
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ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。P...
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Park NX-Mask は、デバイスの微細化、フォトマスクの複雑化に対応した新世代のフォトマスクリペアシステムです。Park NX-Maskは、最先端...
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Park NX-Hybrid WLIは、半導体デバイスの研究開発/生産現場における計測、品質保証、前工程のプロセスコントロール、後工程の高度なパッ...
パーク・システムズ・ジャパンのAFM (原子間力顕微鏡) 11製品中の注目ランキング
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