12 点の製品がみつかりました
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
次世代の新機能を搭載した自動化原子間力顕微鏡 Park FX40
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最新の閲覧: 1分前
■研究開発を加速する次世代テクノロジー ・研究用AFM史上初のデュアルカメラシステムを採用 ・機械学習の採用による自動最適化機能 ■プローブ情報読み取り ...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM) Park NX10
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最新の閲覧: 15秒前
Park NX10は、最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまですべての段階において...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
柔軟なサンプル対応を可能にした最も経済的なリサーチグレードAFM Park NX7
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最新の閲覧: 53秒前
Park NX7は、パーク・システムズの最先端技術を搭載し、上位モデル同様細部までこだわって設計されている最も経済的なAFMです。 ■クロストークの除去による...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
分析化学研究者および共用施設向けの多目的顕微鏡プラットフォーム Park NX12
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Park NX12は、倒立型光学顕微鏡の試料ステージと、汎用性と精度の高いパーク・システムズのAFMを一体化させた装置です。透明/不透明、あるいはソフト/ハード...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm
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Park NX20 300mmは、300mmX300mmのサイズの計測を完全自動化させた業界初の大型サンプル向け原子間力顕微鏡 (AFM) です。 故障解析や品質管理における研究...
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故障解析と大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール Park NX20
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FAエンジニアとして結果を見出すことが求められますが、機械によるエラーやミスは当然許されません。Park NX20は、世界で最も正確な大型試料のAFMとして評判...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite
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最新の閲覧: 23時間前
Park NX20 Liteは、多様な試料を扱う共同研究室、多変量解析やウェハーの故障解析に最適な多くの独自の機能を備えています。 また、リーズナブルな価格設定と...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
自動欠陥検査機能を搭載した唯一のウェハーファブ用AFM Park NX-Wafer
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Park NX-Waferは、半導体および関連ファブリケーション向けの業界をリードする自動AFM測定システムです。 ウェハーファブの検査と解析、ベアウェハーと基板...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM
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パーク・システムズは、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムである革新的なPark 3DM...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
メディアおよび基板製造に最適なAFM Park NX-HDM
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最新の閲覧: 1日前
ナノスケールの欠陥を特定する作業は、メディアやフラットなサブストレートを扱うエンジニアにとって非常に時間のかかるプロセスです。Park NX-HDMは、自動化...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
AFMによるEUVマスクリペア Park NX-Mask
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Park NX-Mask は、デバイスの微細化、フォトマスクの複雑化に対応した新世代のフォトマスクリペアシステムです。Park NX-Maskは、最先端の原子間力顕微鏡技術...
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
原子間力顕微鏡と白色光干渉技術を融合させた世界初のハイブリッド半導体計測装置 Park NX-Hybrid WLI
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Park NX-Hybrid WLIは、半導体デバイスの研究開発/生産現場における計測、品質保証、前工程のプロセスコントロール、後工程の高度なパッケージ管理などのため...
