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深さ分解能 nm

0 - 0.01 0.01 - 0.1 0.1 - 1

使用用途

ナノスケール観察 機械特性評価 生体材料評価 赤外分光分析 電気伝導評価 表面トポグラフィー
  1. Metoree
  2. 観察機器
  3. AFM (原子間力顕微鏡)
  4. パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパンのAFM (原子間力顕微鏡)

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3 点の製品

分析化学研究者および共用施設向けの多目的顕微鏡プラットフォーム Park NX12-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパン株式会社

分析化学研究者および共用施設向けの多目的顕微鏡プラットフォーム Park NX12

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ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパン株式会社

ウェーハ測定及び分析のための自動化ナノ測定装置 Park NX20 300mm

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汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

パーク・システムズ・ジャパン株式会社

汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite

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3 汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

汎用性の高いAFMで生産性を大幅に向上 Park NX20 Lite

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4 高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

高分解能3Dメトロロジーのための全自動産業用AFM Park NX-3DM

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5 柔軟なサンプル対応を可能にした最も経済的なリサーチグレードAFM Park NX7-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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6 次世代の新機能を搭載した自動化原子間力顕微鏡 Park FX40-パーク・システムズ・ジャパン株式会社

次世代の新機能を搭載した自動化原子間力顕微鏡 Park FX40

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