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シリーズ
ICデバイス用 テストソケット テストヘッド取扱企業
日本コネクト工業株式会社カテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 適合デバイス | 周波数範囲 | RF反射損失 | RF挿入損失 | 耐久性 | |
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高周波テストヘッド GURFシリーズ |
要見積もり |
DBM、RF AMP、PLL、VCO、RFモジュール など |
DC~18GHz |
DC~10GHz 10.0dB |
DC~10GHz 1.0dB |
5000回以上 |
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テストヘッド |
要見積もり | - | - | - | - | - |
