ICデバイス用 テストソケット テストヘッド
日本コネクト工業株式会社
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この製品について
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シリーズ
ICデバイス用 テストソケット テストヘッド
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取扱企業
日本コネクト工業株式会社
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カテゴリ
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ICデバイス用 テストソケット テストヘッド 品番2件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 適合デバイス | 周波数範囲 | RF反射損失 | RF挿入損失 | 耐久性 |
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高周波テストヘッド GURFシリーズ |
要見積もり | DBM、RF AMP、PLL、VCO、RFモジュール など | DC~18GHz | DC~10GHz 10.0dB | DC~10GHz 1.0dB | 5000回以上 | |
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テストヘッド |
要見積もり | - | - | - | - | - |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
