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ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-GU15フレームシリーズ
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ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-日本コネクト工業株式会社

ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト
日本コネクト工業株式会社

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この製品について

半導体生産の後工程で使用されるICソケットです。量産用基板を使い、半導体デバイス・回路の検証ができます。 テストソケットのカスタム設計・製造は日本コネクト工業にお任せください。特殊仕様を含め、数々のカスタム製品の開発実績がございます。下記のような情報をお知らせいただければ、最適な製品をご提案いたします。

■情報

・デバイスの寸法図 (公差情報含む、リード形状が確認できるもの) ・デバイスの受面高さなどの制限事項 ・基板面積の制限 ・センサーへの適合形状 ・耐久性 ・温度 (バーンインテスト用) 、湿度 ・使用信号周波数など ※ほかにも型番がございます。

  • シリーズ

    ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト

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ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト 品番10件

フィルター
商品画像 品番 価格 (税抜) 適合デバイス
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU15フレームシリーズ

GU15フレームシリーズ

要見積もり SOP、SON、
SOJ、SIP、LGAなど
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU22モールドフレームシリーズ

GU22モールドフレームシリーズ

要見積もり BGA (WLCSP) 、QFN、LGA
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU22シリーズ 高耐熱タイプ

GU22シリーズ 高耐熱タイプ

要見積もり BGA (WLCSP) 、QFN、LGA
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GQ29-BGAモールドフレームシリーズ

GQ29-BGAモールドフレームシリーズ

要見積もり BGA
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU37モールドフレームシリーズ

GU37モールドフレームシリーズ

要見積もり 0.30mm pitch or larger
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU41シリーズ (1mmピッチ)

GU41シリーズ (1mmピッチ)

要見積もり FTGB196、256-Pin FBGA、FT256/FTG256、FG256/FGG256、FG320/FGG320、324-Pin FBGA
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU41シリーズ (0.8mmピッチ)

GU41シリーズ (0.8mmピッチ)

要見積もり 169-Pin UBGA、CS144/CSG144、256-Pin UBGA、CS324/CSG324、CS280/CSG280、SF363/SFG363、484-Pin UBGAなど
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GQフレームシリーズ

GQフレームシリーズ

要見積もり SOP、LGA
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GU78-BGAシリーズ

GU78-BGAシリーズ

要見積もり BGA
ICデバイス用 テストソケット バーンインテスト-品番-GGIシリーズ

GGIシリーズ

要見積もり BGA、LGA、QFN、QFPなど

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この商品の取り扱い会社情報

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平均返答時間

149.6時間

会社概要

日本コネクト工業株式会社は、各種コネクタやテストソケット、プローブピン、プリント基板などの設計・開発・製造を行う企業です。 製品生産は国内で一貫してできる体制を持っていて、顧客の細かい要望に応えるカスタマイズを特徴と...

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