ICデバイス用 テストソケット ファイナルテスト
日本コネクト工業株式会社
日本コネクト工業株式会社の対応状況
返答率
100.0%
この製品について
■情報
・デバイスの寸法図 (公差情報含む、リード形状が確認できるもの) ・デバイスの受面高さなどの制限事項 ・基板面積の制限 ・センサーへの適合形状 ・耐久性 ・温度 (バーンインテスト用) 、湿度 ・使用信号周波数など-
シリーズ
ICデバイス用 テストソケット ファイナルテスト
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取扱企業
日本コネクト工業株式会社
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カテゴリ
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ICデバイス用 テストソケット ファイナルテスト 品番5件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 定格電流 | 使用温度範囲 | 接触抵抗 | 適合デバイスタイプ |
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オープンタイプ フルカスタムソケット |
要見積もり | - | - | - | - | |
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LGAxxx-IMXS-P100-xx |
要見積もり | 1A max | -35℃~+150℃ | 200mΩ max | LGA、 (BGA、QFN) | |
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PGAxxxA-CMVS-Pxxx-xxx |
要見積もり | 1A max | -35℃~+150℃ | 15mΩ max | PGA | |
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MPGAP-10P-xxxx-xxx |
要見積もり | - | - | - | - | |
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フルカスタム イメージセンサーソケット |
要見積もり | - | - | - | - |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
