In-Line干渉計
オプトデバイスコーポレーション株式会社
この製品について
■Pickup等から射出される光の波面収差を計測
主計測項目:波面収差のP・V及びRMS/POWER (焦点ズレ量) /三次収差 (球面収差量，COMA収差量と方向及び非点収差量と方向)■Pickup等から射出される光の光強度Balanceを計測
主計測項目：光束径中心の算出，光束内輝度重心位置の算出/RIM強度比の算出，光強度分布のProfile表示/光強度のGaussian-fitting Curve算出■Pickup等から射出される光の位置や傾きを相対的に計測 (基準被検物に対して)
主計測項目：干渉計本体に入射する被検光束の傾きを計測■基準光源を使用して光学部品単品の透過波面収差を計測
主計測項目:波面収差のP・V及びRMS/POWER (焦点ズレ量) /三次収差 (球面収差量，COMA収差量と方向及び非点収差量と方向)-
シリーズ
In-Line干渉計
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取扱企業
オプトデバイスコーポレーション株式会社
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カテゴリ
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In-Line干渉計 品番2件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定波長 | 干渉方式 | 干渉縞解析速度 | 測定光束径 | WD | 入射パワー | 解析方式 | 取り込み用CCDカメラ | 表示、演算用CCDカメラ | XY軸ｽﾃｰｼﾞ | αβ軸ｺﾞﾆｵｽﾃｰｼﾞ | オートコリメータ (調整用) | 干渉計本体寸法WxDxH (mm) | 重量 | 測定ソフト | アライメントモード (光軸調整用) | ビーム解析モード | 干渉縞解析モード | スタティックモード | パソコン | 電源 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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RSI-101 |
要見積もり | 405nm | ラジアルシアリング方式 | 約0.5秒 (Zernike項数9項時) | φ4.5mm | 195mm | 0.2m~2mW | フーリエ変換法 | 640×480 (pixel) | 320×240 (pixel) | オプション | オプション | オプション | 260×300×80.5 | 約50Kg | SIF-C405 | ○ | ○ | ○ | ○ | Windows XP | AC100~240V | |
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RSI-301 |
要見積もり | 660nm | ラジアルシアリング方式 | 約0.5秒 (Zernike項数9項時) | φ4.5mm | 195mm | 0.2m~2mW | フーリエ変換法 | 640×480 (pixel) | 320×240 (pixel) | オプション | オプション | オプション | 260×300×80.5 | 約50Kg | SIF-C660 | ○ | ○ | ○ | ○ | Windows XP | AC100~240V |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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- 本社所在地: 神奈川県