In-Line干渉計
オプトデバイスコーポレーション株式会社

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この製品について

In-Line干渉計は、平行Laser光の波面収差を評価するための干渉計Systemです。特に光PICKUP用の生産LineにおいてCollimator出射後の平行Laser光の波面収差の評価や調整に最適なSystemです。

In-Line干渉計機能
■Pickup等から射出される光の波面収差を計測主計測項目:波面収差のP・V及びRMS/POWER (焦点ズレ量) /三次収差 (球面収差量，COMA収差量と方向及び非点収差量と方向) 

■Pickup等から射出される光の光強度Balanceを計測主計測項目：光束径中心の算出，光束内輝度重心位置の算出/RIM強度比の算出，光強度分布のProfile表示/光強度のGaussian-fitting Curve算出

■Pickup等から射出される光の位置や傾きを相対的に計測 (基準被検物に対して) 主計測項目：干渉計本体に入射する被検光束の傾きを計測

■基準光源を使用して光学部品単品の透過波面収差を計測主計測項目:波面収差のP・V及びRMS/POWER (焦点ズレ量) /三次収差 (球面収差量，COMA収差量と方向及び非点収差量と方向) 

型番
この商品には2種類の型番があります

シリーズ
In-Line干渉計

取扱企業
オプトデバイスコーポレーション株式会社

カテゴリ

測定機器

干渉計

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In-Line干渉計品番2件

フィルター

	商品画像	品番	価格 (税抜)	測定波長 405nm 660nm	干渉方式	干渉縞解析速度	測定光束径	WD	入射パワー	解析方式	取り込み用CCDカメラ	表示、演算用CCDカメラ	XY軸ｽﾃｰｼﾞ	αβ軸ｺﾞﾆｵｽﾃｰｼﾞ	オートコリメータ (調整用)	干渉計本体寸法WxDxH (mm)	重量	測定ソフト SIF-C405 SIF-C660	アライメントモード (光軸調整用)	ビーム解析モード	干渉縞解析モード	スタティックモード	パソコン	電源
		RSI-101	要見積もり	405nm	ラジアルシアリング方式	約0.5秒 (Zernike項数9項時)	φ4.5mm	195mm	0.2m~2mW	フーリエ変換法	640×480 (pixel)	320×240 (pixel)	オプション	オプション	オプション	260×300×80.5	約50Kg	SIF-C405	○	○	○	○	Windows XP	AC100~240V
		RSI-301	要見積もり	660nm	ラジアルシアリング方式	約0.5秒 (Zernike項数9項時)	φ4.5mm	195mm	0.2m~2mW	フーリエ変換法	640×480 (pixel)	320×240 (pixel)	オプション	オプション	オプション	260×300×80.5	約50Kg	SIF-C660	○	○	○	○	Windows XP	AC100~240V