表面検査メトロロジー Surface Inspection Metrology of Nanofilms (SIMON)
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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この製品について
■特徴
・初心者にも使いやすいシンプルなシステム ・エリプソメトリ位置分解能が1µmまで向上したイメージングエリプソメトリー ・微細構造物の厚みと屈折率の測定 ・大面積の層厚分布や隠れた欠陥の高速可視化-
シリーズ
表面検査メトロロジー Surface Inspection Metrology of Nanofilms (SIMON)
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取扱企業
パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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表面検査メトロロジー Surface Inspection Metrology of Nanofilms (SIMON) 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) |
|---|---|---|
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SIMON |
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のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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- 本社所在地: 東京都