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超高精度光計測技術 0.2mm@500mの計測精度 周波数シフト帰還型レーザ OCM-A-OCM-A
超高精度光計測技術 0.2mm@500mの計測精度 周波数シフト帰還型レーザ OCM-A-株式会社計測リサーチコンサルタント

超高精度光計測技術 0.2mm@500mの計測精度 周波数シフト帰還型レーザ OCM-A
株式会社計測リサーチコンサルタント



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この製品について

■超高精度光計測技術

「高精度・高速」な距離計測技術を応用したレーザーレーダー方式による三次元計測システムです。計測精度は計測距離に依存せず、フィールドにおいて、計測距離500mで0.2mmの計測精度 (実用精度) を実現します。

■主な特長

・遠隔、非接触での計測が可能 ・計測精度は、計測距離に依存しない ・最大1,000点/秒の高速サンプリング ・高精度な3D測定 (スキャニング) が可能 (計測距離1~5m)

■測定原理

周波数シフト帰還型レーザ (FSFレーザ) は、超高速で線形の周波数チャープ (変化) 光源です。つまり、FSFレーザには、時間に比例して、瞬時周波数が変化する (チャープする) 成分が、共振器縦モード周波数ごとに存在し、これを光周波数領域リフレクトメトリ (OFDR) 法に適用すると、共振器縦モード間隔内に複数のビート周波数を得ることができ、高精度の距離計測が可能となります。 周波数チャープ光をプローブ光と参照光の2つの光波に分割し、干渉計光路差を与えて再び合成し、これを光検出器で観測すると、その光路差に比例したビート周波数が得られます。

■主な用途

・ハイピアの橋梁のたわみ計測 ・柱状構造物の固有振動計測 ・その他、長距離区間における非接触・高精度距離計測 ・金属加工部品の表面形状計測 ・高温体の表面形状計測 ・その他、高精度表面形状計測

  • シリーズ

    超高精度光計測技術 0.2mm@500mの計測精度 周波数シフト帰還型レーザ OCM-A

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超高精度光計測技術 0.2mm@500mの計測精度 周波数シフト帰還型レーザ OCM-A 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 計測用FSFL光源 計測距離 計測精度 (±1σ) 角度分解能 サンプリング速度 外形寸法 電源 信号処理部 スキャナ制御部 スキャナヘッド部 (三脚は含まず) 標準付属品
超高精度光計測技術 0.2mm@500mの計測精度 周波数シフト帰還型レーザ OCM-A-品番-OCM-A

OCM-A

要見積もり

中心波長 1,550 nm
出力パワー 0~15 dbm

散乱体:1~5 m
ターゲット使用:最大1 km

±0.05 mm

0.15″

最大1,000 Hz

W:81×H:94×L:662 (mm) (突起物含まず)

AC100V

W:430×D:450×H:200 (mm) (突起物含まず)
重量:15kg

φ250×H:200 (mm) (突起物含まず)
※W:256×D:250×H:305 (mm) (取っ手含む)
重量:13kg

W:450×D:155×H:285 (mm) (突起物含まず)
重量:17kg

取扱説明書

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社計測リサーチコンサルタントは、1972年設立の、計測や検査事業を行う企業です。 計測管理や地盤解析などのデジタル情報を活用して建設施工管理を行っています。山留め壁・支保工などを設け掘削する「山留め掘削」や、シー...

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  • 本社所在地: 広島県
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