超高精度光計測技術 0.2mm＠500mの計測精度周波数シフト帰還型レーザ OCM-A-OCM-A

超高精度光計測技術 0.2mm＠500mの計測精度周波数シフト帰還型レーザ OCM-A
株式会社計測リサーチコンサルタント

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この製品について

■超高精度光計測技術「高精度・高速」な距離計測技術を応用したレーザーレーダー方式による三次元計測システムです。計測精度は計測距離に依存せず、フィールドにおいて、計測距離500mで0.2mmの計測精度 (実用精度) を実現します。

■主な特長・遠隔、非接触での計測が可能
・計測精度は、計測距離に依存しない
・最大1,000点/秒の高速サンプリング
・高精度な3D測定 (スキャニング) が可能 (計測距離1～5m) 

■測定原理周波数シフト帰還型レーザ (FSFレーザ) は、超高速で線形の周波数チャープ (変化) 光源です。つまり、FSFレーザには、時間に比例して、瞬時周波数が変化する (チャープする) 成分が、共振器縦モード周波数ごとに存在し、これを光周波数領域リフレクトメトリ (OFDR) 法に適用すると、共振器縦モード間隔内に複数のビート周波数を得ることができ、高精度の距離計測が可能となります。

周波数チャープ光をプローブ光と参照光の2つの光波に分割し、干渉計光路差を与えて再び合成し、これを光検出器で観測すると、その光路差に比例したビート周波数が得られます。

■主な用途・ハイピアの橋梁のたわみ計測
・柱状構造物の固有振動計測
・その他、長距離区間における非接触・高精度距離計測
・金属加工部品の表面形状計測
・高温体の表面形状計測
・その他、高精度表面形状計測

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
超高精度光計測技術 0.2mm＠500mの計測精度周波数シフト帰還型レーザ OCM-A

取扱企業
株式会社計測リサーチコンサルタント

カテゴリ

測定機器

三次元測定機

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超高精度光計測技術 0.2mm＠500mの計測精度周波数シフト帰還型レーザ OCM-A 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	計測用FSFL光源	計測距離	計測精度 (±1σ)	角度分解能	サンプリング速度	外形寸法	電源	信号処理部	スキャナ制御部	スキャナヘッド部 (三脚は含まず)	標準付属品
	OCM-A	要見積もり	中心波長 1,550 nm 出力パワー 0~15 dbm	散乱体：1~5 m ターゲット使用：最大1 km	±0.05 mm	0.15″	最大1,000 Hz	W:81×H:94×L:662 (mm) (突起物含まず)	AC100V	W:430×D:450×H:200 (mm) (突起物含まず) 重量:15kg	φ250×H:200 (mm) (突起物含まず) ※W:256×D:250×H:305 (mm) (取っ手含む) 重量:13kg	W:450×D:155×H:285 (mm) (突起物含まず) 重量:17kg	取扱説明書