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ファイバ端面検査用 高精度 非接触干渉計 CLEAVEMETER™ 3D画像生成対応 最大2000 µm対応 CLEAVEMETER 3D™-CLEAVEMETER 3D™
ファイバ端面検査用 高精度 非接触干渉計 CLEAVEMETER™ 3D画像生成対応 最大2000 µm対応 CLEAVEMETER 3D™-株式会社日本レーザー

ファイバ端面検査用 高精度 非接触干渉計 CLEAVEMETER™ 3D画像生成対応 最大2000 µm対応 CLEAVEMETER 3D™
株式会社日本レーザー

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この製品について

適応クラッド径最大: 2,000 µm、ファイバコーティング: 250 – 1,500 µm、3D画像生成対応モデルのご用意もございます。

■ファイバ切断プロセスの向上に貢献 ファイバ端面検査

切断した光ファイバの端面品質を検査し、切断プロセスを最適化するための高精度な干渉計です。鮮明で明瞭な縞パターンを実現する高度な測定機能を備えたソフトウェアを採用しており、製造現場での使用や、実験室環境で切断が困難な光ファイバを扱う環境に最適です。 ファイバホルダアダプタは、主要接続機メーカーのクリーバやスプライサに使用でき、再クランプなしで光ファイバをファイバカッタから干渉計へ、そしてスプライサへと容易に移動させることが可能です。

■特徴

・フル解像度の表面形状再構成 ・表面形状および点ごとの傾きの2Dビュー ・カメラと照明制御による表面形状の3D表示 ・生産環境での迅速な操作可能 ・最高精度 – 0.005° (モデルに依存)

  • シリーズ

    ファイバ端面検査用 高精度 非接触干渉計 CLEAVEMETER™ 3D画像生成対応 最大2000 µm対応 CLEAVEMETER 3D™

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2025年3月27日にレビュー

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ファイバ端面検査用 高精度 非接触干渉計 CLEAVEMETER™ 3D画像生成対応 最大2000 µm対応 CLEAVEMETER 3D™ 品番1件

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使用用途

#表面形状解析 #厚み測定 #平坦度評価 #光学特性評価 #材料研究 #精密加工検査 #波面解析 #振動解析 #光通信評価

光源方式

レーザ 白色光

光路構成

マイケルソン ファブリペロー サビーヌ

測定対象

変位測定型 表面形状型 薄膜厚測定型

分解能 nm

0 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 2,500

測定範囲 mm

0 - 5 5 - 50

波⻑レンジ nm

300 - 400 400 - 700 700 - 1,300 1,300 - 1,800

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会社概要

株式会社日本レーザーは、レーザーおよび光関連製品を取り扱う、レーザー専門商社です。
1968年設立、1971年に日本電子株式会社の100％出資子会社となった後、2007年には日本初のMEBOで完全独立いたしました...

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