ナノスケール赤外分光分析システム
ブルカージャパン株式会社

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この製品について

■AFM 赤外分光分析システム 待望の新世代ナノスケール赤外分光システム Dimension IconIR国内外での最多導入実績を誇るAFMのベストセラー機Dimension Icon。PeakForce Tappingに代表されるブルカーの独自技術とnanoIRテクノロジーがついに融合しました。定評のある機械特性、電気特性技術に加え、ナノスケールでの赤外分光分析が一つのシステム上で実現します。

■トポグラフィー・PeakForce Tapping
・Contact
・Tapping / FAST Tapping
・Force Curve / Force Volume

■赤外分光・Contact AFM-IR
・Resonance Enhanced AFM-IR
・Tapping AFM-IR
・Surface Sensitive AFM-IR

■熱分析・VITA/Nano-TA
・SThM
・TTM

■機械特性評価・Peakforce QNM
・Phase, Friction
・Force spectroscopy
・Force Modulation
・Nano-Indentation
・Force Volume
・Contact Resonance Mapping
・AFM nano-DMA 
・Nanolithography & Nanomanipulation
・Ringing Mode

■電気特性評価・Liftmode & Darklift
・EFM
・KPFM (AM & FM) , Peakforce KPFM
・C-AFM & DCUBE-CAFM
・TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA
・PFM & & DCUBE-PFM & DCUBE-CR-PFM & SS-PFM
・SCM & DCUBE-SCM
・SSRM & DCUBE-SSRM
・sMIM & Peakforce sMIM & DCUBE-SMIM
・MFM & Torsional Resonance MFM

nanoIRとAFM、実績ある両技術が一つのシステムに集約
■IconIRの特徴・FTIRスペクトルと相関する最高の分光性能
・10 nm空間分解能のケミカルイメージング  
・単分子膜をも検知する表面感度