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固定型赤外線サーモグラフィカメラ FLIR A50/A70 研究開発キット取扱企業
フリアーシステムズジャパン株式会社カテゴリ
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| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 赤外線解像度 | 検知器間隔 | スペクトル範囲 | 検知器タイプ | ダイナミックレンジ | 温度分解能_NETD | フレームレート | 標準温度範囲 | 焦点 | イメージングとレンズ スペクトル範囲 | イメージングとレンズ ダイナミックレンジ | パソコン上でのデジタルデータストリーミング | イメージングとレンズ フレームレート | イメージングとレンズ マクロモード | イメージングとレンズ レンズ | イメージングとレンズ レンズ識別 | イメージングとレンズ 温度分解能_NETD | イメージングとレンズ 可視カメラ | イメージングとレンズ 画像モード | イメージングとレンズ 検知器タイプ | イメージングとレンズ 検知器間隔 | イメージングとレンズ 最小焦点距離 | イメージングとレンズ 視野角 (FOV) | イメージングとレンズ 焦点 | イメージングとレンズ 赤外線解像度 | イメージングとレンズ 利用可能なレンズ | 測定解析 精度 | 測定解析 標準温度範囲 | 通信とデータ保存 WiFi | 通信とデータ保存 イーサネットコネクタータイプ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
A50 研究開発キット、29°レンズ |
要見積もり |
464 × 348 |
17 µm |
7.5 – 14.0 µm |
非冷却式マイクロボロメーター |
16 ビット |
50 mK以下 |
30 Hz |
-20℃~175℃、175℃~1,000℃ |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
7.5 – 14.0 µm |
16 ビット |
付属の ResearchStudio ソフトウェアを実行しているワークステーション経由 |
30 Hz |
いいえ |
29°固定 |
なし |
50 mK以下 |
付属、1,280 × 960 解像度 |
サーマル、可視光、MSX®、FSX® |
非冷却式マイクロボロメーター |
17 µm |
0.25 m |
29°× 22° |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
464 × 348 |
固定レンズのみ |
周囲温度 15℃~35℃ および計測対象物温度 0℃以上において±2℃または±2℃誤差 (読み値に対して) |
-20℃~175℃、175℃~1,000℃ |
○、メス RP-SMA コネクタ、ピア・ツー・ピア (アドホック) またはインフラストラクチャ (ネットワーク) |
M12 8-ピン X-コード、メス |
|
|
|
A50 研究開発キット、51°レンズ |
要見積もり |
464 × 348 |
17 µm |
7.5 – 14.0 µm |
非冷却式マイクロボロメーター |
16 ビット |
50 mK以下 |
30 Hz |
-20℃~175℃、175℃~1,000℃ |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
7.5 – 14.0 µm |
16 ビット |
付属の ResearchStudio ソフトウェアを実行しているワークステーション経由 |
30 Hz |
いいえ |
51°固定 |
なし |
50 mK以下 |
付属、1,280 × 960 解像度 |
サーマル、可視光、MSX®、FSX® |
非冷却式マイクロボロメーター |
17 µm |
0.2 m |
51° × 39° |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
464 × 348 |
固定レンズのみ |
周囲温度 15℃~35℃ および計測対象物温度 0℃以上において±2℃または±2℃誤差 (読み値に対して) |
-20℃~175℃、175℃~1,000℃ |
○、メス RP-SMA コネクタ、ピア・ツー・ピア (アドホック) またはインフラストラクチャ (ネットワーク) |
M12 8-ピン X-コード、メス |
|
|
|
A50 研究開発キット、95°レンズ |
要見積もり |
464 × 348 |
17 µm |
7.5 – 14.0 µm |
非冷却式マイクロボロメーター |
16 ビット |
50 mK以下 |
30 Hz |
-20℃~175℃、175℃~1,000℃ |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
7.5 – 14.0 µm |
16 ビット |
付属の ResearchStudio ソフトウェアを実行しているワークステーション経由 |
30 Hz |
いいえ |
51°固定 |
なし |
50 mK以下 |
付属、1,280 × 960 解像度 |
サーマル、可視光、MSX®、FSX® |
非冷却式マイクロボロメーター |
17 µm |
0.1 m |
51° × 39° |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
464 × 348 |
固定レンズのみ |
周囲温度 15℃~35℃ および計測対象物温度 0℃以上において±2℃または±2℃誤差 (読み値に対して) |
-20℃~175℃、175℃~1,000℃ |
○、メス RP-SMA コネクタ、ピア・ツー・ピア (アドホック) またはインフラストラクチャ (ネットワーク) |
M12 8-ピン X-コード、メス |
|
|
|
A70 研究開発キット、29°レンズ |
要見積もり |
640 × 480 |
17 µm |
7.5 – 14.0 µm |
非冷却式マイクロボロメーター |
16 ビット |
50 mK以下 |
30 Hz |
-20℃~175℃、-20℃~250℃、175℃~1,000℃ |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
7.5 – 14.0 µm |
16 ビット |
付属の ResearchStudio ソフトウェアを実行しているワークステーション経由 |
30 Hz |
いいえ |
29°固定 |
なし |
50 mK以下 |
付属、1,280 × 960 解像度 |
サーマル、可視光、MSX®、FSX® |
非冷却式マイクロボロメーター |
17 µm |
0.25 m |
29°× 22° |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
640 × 480 |
固定レンズのみ |
周囲温度 15℃~35℃ および計測対象物温度 0℃以上において±2℃または±2℃誤差 (読み値に対して) |
-20℃~175℃、-20℃~250℃、175℃~1,000℃ |
○、メス RP-SMA コネクタ、ピア・ツー・ピア (アドホック) またはインフラストラクチャ (ネットワーク) |
M12 8-ピン X-コード、メス |
|
|
|
A70 研究開発キット、51°レンズ |
要見積もり |
640 × 480 |
17 µm |
7.5 – 14.0 µm |
非冷却式マイクロボロメーター |
16 ビット |
50 mK以下 |
30 Hz |
-20℃~175℃、-20℃~250℃、175℃~1,000℃ |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
7.5 – 14.0 µm |
16 ビット |
付属の ResearchStudio ソフトウェアを実行しているワークステーション経由 |
30 Hz |
いいえ |
51°固定 |
なし |
50 mK以下 |
付属、1,280 × 960 解像度 |
サーマル、可視光、MSX®、FSX® |
非冷却式マイクロボロメーター |
17 µm |
0.2 m |
51° × 39° |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
640 × 480 |
固定レンズのみ |
周囲温度 15℃~35℃ および計測対象物温度 0℃以上において±2℃または±2℃誤差 (読み値に対して) |
-20℃~175℃、-20℃~250℃、175℃~1,000℃ |
○、メス RP-SMA コネクタ、ピア・ツー・ピア (アドホック) またはインフラストラクチャ (ネットワーク) |
M12 8-ピン X-コード、メス |
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|
|
A70 研究開発キット、95°レンズ |
要見積もり |
640 × 480 |
17 µm |
7.5 – 14.0 µm |
非冷却式マイクロボロメーター |
16 ビット |
50 mK以下 |
30 Hz |
-20℃~175℃、-20℃~250℃、175℃~1,000℃ |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
7.5 – 14.0 µm |
16 ビット |
付属の ResearchStudio ソフトウェアを実行しているワークステーション経由 |
30 Hz |
いいえ |
51°固定 |
なし |
50 mK以下 |
付属、1,280 × 960 解像度 |
サーマル、可視光、MSX®、FSX® |
非冷却式マイクロボロメーター |
17 µm |
0.1 m |
51° × 39° |
付属のフォーカスツールで調整可能 |
640 × 480 |
固定レンズのみ |
周囲温度 15℃~35℃ および計測対象物温度 0℃以上において±2℃または±2℃誤差 (読み値に対して) |
-20℃~175℃、-20℃~250℃、175℃~1,000℃ |
○、メス RP-SMA コネクタ、ピア・ツー・ピア (アドホック) またはインフラストラクチャ (ネットワーク) |
M12 8-ピン X-コード、メス |
