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インライン蛍光X線分析計 VANTA iX-Vanta iX MIRモデル
インライン蛍光X線分析計 VANTA iX-株式会社ナニワプロジェックス

インライン蛍光X線分析計 VANTA iX
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この製品について

VantaiXインライン蛍光X線分析計は、製造ラインにおける材料分析と合金判定 (ID) を自動的に行うことで、製品検査の信頼を高めます。 ・工程をそのままで成分検査を設置 ・高い費用効果、堅牢、接続性 ・リアルタイムの工程モニタリングと全数検査での合金判定 ・連続稼働に対応 ・合否判定、合金品種名、材料組成を出力するように設定可能 他のVantaシリーズ機器と同様に、VantaiX分析計は、短時間で信頼性の高い分析結果を提供し、検査工程での重要な判断を支援します。長時間稼働できるよう、IP規格への準拠と振動試験済みの堅牢設計になっています。取付面の自由度と制御方式オプションにより、検査システムへの組み込みを容易にします。

  • シリーズ

    インライン蛍光X線分析計 VANTA iX

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インライン蛍光X線分析計 VANTA iX 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 寸法 (幅×高さ×奥行き) 質量 X線管 1次ビームフィルター 検出器 電源 元素範囲 気圧補正 防塵防滴性能 動作環境 オペレーティングシステム アプリケーションソフトウェア
インライン蛍光X線分析計 VANTA iX-品番-Vanta iX MIRモデル

Vanta iX MIRモデル

要見積もり

10 cm×7.9 cm×26.6 cm

2.4 kg

ターゲット材：ロジウム (Rh) またはタングステン (W) (用途に応じて最適化) 、5~200 μA
8~50 keV (最大4 W)

ビームおよび分析メソッドごとに自動選択される8ポジションフィルター

大口径シリコンドリフトディテクター

Power over Ethernet (PoE+ IEEE 802.3 (2003) ) または18 V AC電源アダプター

分析メソッドに依存：
マグネシウム (Mg) からウラン (U)

標高や空気密度を自動補正するための気圧センサー内蔵

IP54

温度範囲：–10 ℃~50 ℃ (連続デューティサイクル)
湿度：非結露の相対的湿度10%~90%

Linux

オリンパス独自のデータ収集および処理パッケージ

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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