超高精度光周波数雑音/線幅アナライザ『A0040A』
セブンシックス株式会社

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この製品について

■概要新たに開発した光周波数雑音測定機能に、A0010A RIN測定システム、A0020A レーザ線幅測定システムの機能を統合した、総合光雑音解析ソリューションです。光雑音アナライザは、近年のデジタル・コヒーレント通信方式向の発展に伴い、レーザ光源の光周波数の安定性に対する要求の高まりに対応し、従来のスペクトラム線幅測定では得られなかった新しい光周波数雑音特性の取得を可能にする測定システムです。

レーザ光の光周波数雑音のパワースペクトラムの解析により、ITLA等の高度に集積化された光源について、設計・品質の重要な指標を得るとともに、製品の差別化を推進することができます。また、A0010A RIN測定システム、の機能を付加することにより、投資効率の高いシステムとなります。

さらに、A0020A レーザ線幅測定システムの機能を合わせ持つことにより、従来の線幅測定からレーザ光の光周波数雑音測定へのシームレスな以降を可能にします。

■特長・1/f雑音、白色雑音からローレンツ線幅などを解析
・RIN測定、サブkHzオーダーのレーザ線幅測定を実現
・光雑音アナライザは、レーザ光の光周波数雑音のパワースペクトラムの表示
・白色ノイズおよび1/fノイズを表すパラメータ抽出機能
・レーザ光の電界 (線幅) スペクトラムの表示
・白色ノイズ成分による等価線幅  (ローレンツ線幅)  の算出機能

■用途・センシング / デバイス評価
・データセンター
・デバイス評価
・光アクセス
・光ファイバセンシング
・基幹系インフラ
・通信