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最高の分解能 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)-METROTOM 6 scout
最高の分解能 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)-カールツァイス株式会社

最高の分解能 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)
カールツァイス株式会社

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この製品について

内部の幾何要素を含む複雑な部品を微細なレベルでデジタル化します。幾何公差評価または設計値/実測値比較のための完全な3Dデータが得られます。この計測用X線CT装置は、小さなプラスチック部品のデジタル化に特に優れています。 導入メリット

■高解像度

3Kデテクタ (3,008 x 2,512ピクセル) を搭載

■高精度

測定室の数学的モデリングを導入

■ワーク位置自動調節機能

5軸制御とソフトウェアによるライブビュー

■オールインワンソフトウェア

スキャンから測定・解析までの一貫した高速ワークフローを実現 概要

■他のX線CT装置では見ることのできないものを明らかにする

部品を非常に鮮明なディテールでデジタル化します。その理由の1つは、スキャンデータを取得するために高解像度の3K X線デテクタを搭載していることです。もう1つの理由は、部品を可能な限り最適な位置で測定するためです。これらの理由から、常に最高の分解能でスキャンすることができます。

■高い測定精度を保証

数学的インテリジェンスを使用して高精度の3Dスキャンデータを生成します。測定シーケンス全体にわたって完全に相互リンクされたアルゴリズムを測定室のデジタルモデリングと組み合わせます。さらにシステムはスキャンに関連するすべてのコンポーネントが、最適化された機械的安定性を備えています。 そのため、測定結果に基づき、部品の品質を真に信頼できる高精度な方法で評価し、更なる解析を行うことができます。

■オールインワンソフトウェア

X線CT装置の制御とスキャンデータの評価がひとつのソフトウェアパッケージに統合されているため、追加のソフトウェアや中間ステップが不要です。生データの取得から検査、測定レポートの作成までのプロセスチェーンが大幅に簡素化されています。

■GOM Volume Inspectによる包括的な評価

Gom Volume Inspectを使用すると、3Dで完全なCTデータ分析を実行し、部品の品質を評価し、製造プロセスを最適化できます。個々の断層画像を使用してレイヤーごとに表示できるため、細部や内部欠陥までも表示することができます。検出された欠陥は詳細に分析され、さまざまな基準に従って自動的に評価されます。

  • シリーズ

    最高の分解能 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)

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最高の分解能 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) X線管：最大管電圧 デテクタ 測定範囲 ボクセルサイズ 装置寸法 装置重量 適用分野 機能検査 測定項目
最高の分解能 ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)-品番-METROTOM 6 scout

METROTOM 6 scout

要見積もり

225 kV

解像度：3,008 x 2,512ピクセル

直径：240 mm 高さ：400 mm

2 µm - 80 µm

高さ： 2,210 mm
幅： 2,200 mm
奥行き：1,230 mm

4,800 kg

初品検査、金型修正、製造品検査

内部構造、肉厚、材料欠陥、ボイドおよびキャビティ

幾何形状測定、設計値-実測値比較、組み立て検査

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管電圧 kV

20 - 150 150 - 250 250 - 350 350 - 500 500 - 600

管電流 μA

0 - 500 500 - 1000 1000 - 3000 3000 - 5000 5000 - 10000

装置重量 kg

0 - 2000 2000 - 7000 7000 - 11000 11000 - 14000

ピクセルサイズ μm

0 - 70 70 - 100 100 - 160 160 - 260

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会社概要

ZEISSは光学とオプトエレクトロニクス分野をリードする国際的テクノロジー企業です。 ZEISSグループは半導体製造装置、工業用測定機、顕微鏡、医療機器、眼鏡レンズ、カメラおよび映写機用レンズ、双眼鏡、プラネタリウムなど...

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