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インラインの膜厚分析に最適 蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」-OURSTEX100TA-F
インラインの膜厚分析に最適 蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」-アワーズテック株式会社

インラインの膜厚分析に最適 蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」
アワーズテック株式会社



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この製品について

アワーズテックの非破壊分析技術を生かしたインライン膜厚分析装置。

■特徴

・インラインで膜厚の分析が可能 ・電源はAC100Vのみ、省電力装置 ・用途に合わせて自在にカスタマイズ可能 ・SDD検出器搭載で液体窒素や冷却水は不要

■応用例

・高機能成膜フィルムのインライン膜厚分析 ・金属箔のインライン分析 ・溶液・液体のインライン分析etc

  • シリーズ

    インラインの膜厚分析に最適 蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」

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インラインの膜厚分析に最適 蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」 品番1件

次の条件に該当する商品を1件表示しています

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定原理 測定対象 電源 設置環境温度 装置冷却 X線定格出力 検出器 計数回路 測定ヘッド部寸法
インラインの膜厚分析に最適 蛍光X線分析装置 「OURSTEX100TA-F」-品番-OURSTEX100TA-F

OURSTEX100TA-F

要見積もり

エネルギー分散型蛍光X線分析法

フィルム

AC100V-240V

5-27℃

水冷式
※測定ヘッド部 (内部) が水冷の対象になります。

40kV,1.0mA,最大40 (W)

SDD (シリコンドリフトディテクタ)

DSP (デジタルシグナルプロセッサ)

266 (W) ×136 (D) ×160 (H) mm
※予告なく変更することがあります。

フィルターに該当する他製品

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分析対象: 元素分析型

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X線分析装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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