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TEM 向け SDD X-MaxN 80T-X-MaxN 80T
TEM 向け SDD X-MaxN 80T-オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

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この製品について

The X-MaxN シリーズの TEM 向け SDD は、新しいセンサ素子、新しいエレクトロニクス、および革新的なパッケージングを活用して、真に「次世代の」 SDD 性能を実現しています。

■特徴

・X-MaxN TEM 検出器は、最新の低ノイズ検出器設計を使用、高計数率でも優れた分解能と感度を実現しています。 ・定常的な TEM アプリケーション用に特別に設計された X-MaxN 80 T の大面積 80 mm2 センサは、優れた立体角と分析性能を実現しています。 ・スループットと低エネルギーでの感度を最大化する設計です。 ・50,000 cps において優れた分解能を有しています。(Mnで性能を保証) ・最良のピーク/バックグラウンド比と軽元素検出のために最適化された取り出し角です。 ・フィールドエミッション型、収差補正顕微鏡を含むすべてのクラスの TEM で実績のある性能 ・AZtecTEM TruMap ソフトウェアを使用したリアルタイムのバックグラウンド除去およびピークデコンボリューションを含む、X線マップの迅速取得につながる計数率

■大型センサを使用する重要性

・低い電子ビーム電流においても生産的な計数率 ・撮像性能と精度の最大化 ・X線分析のための撮像条件変更は不要 ・同一の電子ビーム電流で著しく高い計数率 ・データ取得時間の短縮 ・より優れた統計的信頼性 ・小さい電子ビーム径での実用的な分析 ・空間分解能を最大化 ・高分解能 TEM を最大限に活用

  • シリーズ

    TEM 向け SDD X-MaxN 80T

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TEM 向け SDD X-MaxN 80T 品番1件

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は科学研究機器、半導体プロセス装置、分析機器の輸入販売・修理・買取を行っている企業です。 1991年にイギリスのオックスフォード・インストゥルメンツの日本法人として設立されま...

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