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光波動場三次元顕微鏡 MINUK-MINUK
光波動場三次元顕微鏡 MINUK-大塚電子株式会社

光波動場三次元顕微鏡 MINUK
大塚電子株式会社

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この製品について

MINUKは、nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能で、1ショットで高さ方向の情報を取得でき、非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能な装置です。さらにフォーカス不要で、任意の面を高速でスキャンして測定位置を決定することが可能です。

■特長

・nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ・1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ・フォーカス不要で高速測定が可能 ・非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ・任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 観察法

■今までに無い独自の観察方法

対象物にレーザーを当てることで、厚みと屈折率の変化によって波面が変化します。その変化を波面センサでとらえ、独自のソフトウェア上で数値解析し、像を再生しています。

■瞬時に深さ方向1400μmのフォーカス情報を一斉に取得可能    

700×700μm、深さ方向1400μmの情報を瞬時に測定します。約2μmの 分解能のスライス像の情報を取り込み、約700枚のスライス像を取得します。 その情報をデジタルリフォーカシングすることにより三次元構造の追加検証が可能です。

■広視野かつ無歪/無収差イメージングを実現

700×700μmの広視野で0.5μm未満の線幅を捉えることができる高分解能を実現し、また光学系にはレンズを使用していないため、歪みや収差がないイメージングを実現しています。

■ワンショットイメージングから高品質イメージングが可能          

観察内容に応じて、ワンショットイメージングから高品質イメージングまで観察が可能です。ワンショットイメージングでは高速リアルタイム測定が可能で、経時変化を動画で観察することもできます。また、高品質イメージングでは高品質な画像取得が可能です。

  • シリーズ

    光波動場三次元顕微鏡 MINUK

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光波動場三次元顕微鏡 MINUK 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 分解能 x,y 視野 x,y 分解能 z 視野 z サンプルサイズ サンプルステージ 微動XYステージ (自動) サンプルステージ 粗動ステージ レーザー サイズ (幅×奥行き×高さ) mm 質量 消費電力
光波動場三次元顕微鏡 MINUK-品番-MINUK

MINUK

要見積もり

691nm (ワンショット) 、488nm (合成)

700×700μm

10nm (位相差)

±700μm

100×80×t20mm (汎用サンプルホルダ取付時)

X:±10mm Y:±10mm

X:129mm Y:85mm

波長 638nm
出力 0.39mW以下 Class1 (測定試料への照射強度)

本体:505 (W) ×630 (D) ×439 (H)
※PC、付属品は含まず

41kg

本体:290VA
※PC、付属品は含まず

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使用用途

#ラマン分析 #複合測定 #高速測定 #3次元イメージング #SERS #ケミカルイメージング #ナノ分析 #非破壊測定 #材料分析

レーザー波長 nm

300 - 400 400 - 500 500 - 600 600 - 700 700 - 800 800 - 1,100

倍率 倍

100 - 500 500 - 1,300

空間分解能 nm

100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 3,000 3,000 - 6,000 6,000 - 12,000

分光器焦点距離 mm

300 - 500 500 - 700 700 - 900

グレーティング g/mm

0 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 3,000 3,000 - 4,000

全体重量 kg

0 - 100 100 - 400

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

大塚電子株式会社は大塚製薬株式会社の子会社で、計測機器及び検査機器などの製造メーカーです。 赤外分光分析装置・ディスクリート方式臨床化学自動分析装置などのME機器、ゼータ電位測定システム・多検体ナノ粒子径測定システムな...

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  • 本社所在地: 大阪府
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