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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE-NEX DE
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE-株式会社リガク

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE
株式会社リガク

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この製品について

■少量粉末試料の分析に

粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感度良く分析できます。

■粉末X線回折の補助装置として

リガク製X線分析統合ソフトウェアSmartLabStudioII-PowderXRDプラグインの結晶相自動検索条件設定画面から、NEXDEの測定結果ファイルを読み込むことができます。NEXDEで得られた元素情報が検索条件に反映されます。 概要

■Na~Uまで分析が可能

研究開発から工程管理まで汎用的に使用できます。

■FP法によるスタンダードレス分析

バルクFP法、薄膜FP法を標準で搭載していますので、標準試料が用意できない試料に対しても簡単に定性・定量分析が行えます。また,通常の検量線法による定量分析も可能です。

■場所を選ばず設置可能

AC100V電源のみで稼働し、冷却水は不要。X線作業主任者の選任も不要です。

■特長

エネルギー分散型蛍光X線分析装置で、製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適しています。測定できる元素範囲はNaからUで、ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。少量粉末、異物、RoHS分析用に小径コリメータ及び試料観察用カメラを含む仕様と、汎用用途向けとして、小径コリメータ及びカメラを含まない仕様から選択できます。

  • シリーズ

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE

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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 手法 用途 主要コンポーネント 制御 (PC) 本体寸法 重量 電源 テクノロジー オプション
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE-品番-NEX DE

NEX DE

要見積もり

蛍光X線分析 (XRF)

固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析

12W-60kV X線管、SDD検出器

外部PC、MS Windows® OS、QuantEZソフトウェア

356 (W) x 260 (H) x 351 (D) mm

約 27 kg (本体)

単相 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A

SDD検出器を使用したエネルギー分散型XRF (EDXRF)

オートサンプラー、スピナー (シングルポジション)

フィルターから探す

X線分析装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

株式会社リガクは、科学機器メーカーです。 1951年に設立された株式会社リガク山梨は、東京都昭島市に本社・東京工場・X線研究所を構え、大阪府高槻市に大阪工場、山梨県北杜市に山梨工場を所有しています。また米国をはじめ...

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  • 本社所在地: 東京都

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