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波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15-Simultix15
波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15-株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15
株式会社リガク

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この製品について

■ハイスループット、高精度分析

高速試料搬送システムと高速データ処理、強力かつ安定なX線により、走査型装置と比べて高精度かつ短時間での測定が可能です。

■最大40元素の同時分析が可能

測定できる元素数は最大で40 (標準構成では30) 。測定範囲はBeからUまで。 概要

■両湾曲結晶

同時型蛍光X線分析装置では初めて両湾曲結晶を固定型分光器に搭載し、従来の単湾曲結晶に比べ高感度化を実現しました。

■人工多層累積膜「RXシリーズ」

新開発の人工累積膜「RX85」はBe (ベリリウム) およびB (ホウ素) 分析において、従来比30%の感度向上を実現しました。

■回折 (XRD) チャンネル

回折チャンネルを搭載することで、蛍光X線とX線回折による定量分析を1台の装置で行えるようになります。焼結鉱中のFeO (酸化鉄) 、セメントクリンカ中のフリーライム (f.CaO) の定量分析が可能です。

■自動真空度制御機構 (APC)

真空度安定機構による軽元素分析の安定化や真空スピード切替機構による粉体試料の飛散対策を強化した、信頼性の高い真空システムを採用しています。

■オートメーション対応

自動試料交換機 (ASC48) を搭載可能。その他にも全自動ガラスビード作製装置や自動加圧成形機などの試料前処理装置と接続することで自動化が可能です。

■走査型分光器を搭載可能

O (酸素) からU (ウラン) を測定できる重軽元素スキャンゴニオメーター、もしくはTi (チタン) からU (ウラン) を測定できる重元素スキャンゴニオメーターを搭載できます。定性分析、半定量分析、分析頻度の少ない元素の定量分析に有効です。

■カスタマイズで多様な測定を実現

・合金化溶融亜鉛 (GA) メッキ中のFe含有率分析 ・チタン酸バリウムの高精度モル比分析 ・セメントクリンカ中のフリーライム定量分析 ・焼結鉱中のFeO定量分析 ・鉄鉱石の定量分析など

■特長

ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置です。上面照射方式、自動真空度制御機構といった操作性の良さと、高性能分光素子や高速検出器の搭載により、迅速・高精度分析を実現しています。鉄鋼、セメント、非鉄金属、化学工業など、各種生産工程での品質管理において、多試料の元素分析に役立ちます。各種前処理装置との結合も可能で多岐にわたる工程管理に対応できます。

  • シリーズ

    波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15

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波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 手法 用途 主要コンポーネント 制御 (PC) 本体寸法 質量 電源 テクノロジー オプション
波長分散型蛍光X線分析装置 ハイスループット、高精度分析が可能な多元素同時型の蛍光X線分析装置 Simultix15-品番-Simultix15

Simultix15

要見積もり

波長分散型蛍光X線分析 (WDXRF)

固体、粉末および合金のハイスループット元素分析

3 / 4 kW端窓型X線管、自動真空度制御機構 (APC) 、「デジタル・マルチチャンネルアナライザー (D-MCA) 」

外部PC、MS Windows® OS、Simultixソフトウェア

880 (W) ×1,700 (H) ×1,300 (D) mm

約 700 kg

三相 200 VAC 50/60 Hz, 40 A

同時型 波長分散蛍光X線分析 (WDXRF)

XRDチャンネル、スキャニングゴニオメーター、オートサンプラ

フィルターから探す

X線分析装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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この商品の取り扱い会社情報

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220.0時間

会社概要

株式会社リガクは、X線分析装置メーカーです。
リガクはX線分析に要する基礎技術と要素部品を独自に開発しており、X線源、光学機器、検出器等の主要な要素技術について世界のトップ水準にあります。

19...

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  • 本社所在地: 東京都
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