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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV-ZSX Primus IV
波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV-株式会社リガク

波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV
株式会社リガク

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この製品について

ルーチン分析に安心してお使いいただける上面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置です。測定・解析をサポートする“ZSXGuidance”を備え、初心者の方でも簡単に正確な分析結果が得られます。デジタル計数システムや高速駆動のゴニオメーター、最適化された制御システムにより、高速・高精度測定を実現。人工多層累積膜や真空制御機構により超軽元素測定も可能です。ヒューマンエラー防止機能などの安心・安全設計、ポイント・マッピング分析や散乱線SQX機能も搭載したハイスペックモデルです。 概要

■上面照射方式

ルーチン分析に安心してお使いいただける上面照射方式を採用しています。粉末試料からの粉が飛散しても光学系への影響はありません。試料保護のためのフィルムも不要です。

■定量アプリケーション自動設定機能

標準試料の標準値と試料情報を入力するだけで、分析線・光学系の設定、共存元素補正、重なり補正を自動設定し、初心者でも検量線格納が容易です。

■膜厚・付着量分析のための最適測定線検索・分析評価プログラム

一番精度よく分析できる分析線の組合せや、分析線の分析深さ情報・上層による吸収の割合のシミュレーション結果や妨害線の情報を得ることができます。

■優れた操作性の「らくらく分析」

日常のルーチン分析に必要な操作を集約した「らくらく分析」により、一連の分析設定をワンタッチで呼び出したり、頻繁に用いるアプリケーションを”お気に入り”へ登録することができます。

■高速分析

試料の高速搬送、高速駆動ゴニオメーター、高速データ処理、効率的な各駆動部の制御により、スループットが向上しました。定性分析時間は約40%、定量分析では約20% (当社比) 短縮でき、単位時間当たりの試料処理数を増加させることができます。

■高精度測定

X線計数システムにはデジタル・マルチチャンネルアナライザー (D-MCA) を採用。高速デジタル処理により高計数率域までの計数直線性を実現し分析精度が向上しました。最大計数率 (計数直線性1%) :SC1,800kcps、F-PC3,000kcps

  • シリーズ

    波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV

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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV 品番1件

次の条件に該当する商品を1件表示しています

商品画像 品番 価格 (税抜) 手法 用途 主要コンポーネント 制御 (PC) 本体寸法 質量 電源 テクノロジー オプション
波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV-品番-ZSX Primus IV

ZSX Primus IV

要見積もり

波長分散蛍光X線分析 (WDXRF)

固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析

3 / 4 kW封入型X線管、デジタル・マルチチャンネルアナライザー (D-MCA )

外部PC、MS Windows® OS、ZSX Guidanceソフトウェア

1,310 (W) x 1,470 (H) x 890 (D) mm

約 620 kg

三相 200 VAC 50/60 Hz, 単相 220 (または230) VAC 50/60 Hz, 単相 240 VAC 50-60 Hz, 8 kW

走査型 波長分散蛍光X線分析 (WDXRF)

分光結晶、液体試料ホルダー検出機構、S-PC LE

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X線分析装置の中で同じ条件の製品
測定対象形状: バルク対応型

フィルターから探す

X線分析装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

株式会社リガクは、X線分析装置メーカーです。
リガクはX線分析に要する基礎技術と要素部品を独自に開発しており、X線源、光学機器、検出器等の主要な要素技術について世界のトップ水準にあります。

19...

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  • 本社所在地: 東京都
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