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ファブリペロー干渉計-FPI 100-0355-3V0
ファブリペロー干渉計-トプティカフォトニクス株式会社

ファブリペロー干渉計
トプティカフォトニクス株式会社

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この製品について

■特徴

・半導体レーザの縦モード分析に最適 ・各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長：330～3,000nm ・FSR:1GHz ・フィネス > 200 (典型値 > 400) コンフォーカル・ファブリペロー型干渉計とディテクタユニットを丈夫でコンパクトなアルミ製ハウジングに一体化したスキャニング型干渉計です。CW光のスペクトル解析手法として確立されている走査型ファブリペロー干渉計と高分解能で簡単操作を可能にするコンフォーカル光学系の利点を一体化したスぺクトルアナライザとして使用頂けます。 波長範囲330～3,000nmにおいて各種のミラーセットとフォトディテクターを用意しています。標準で反射率 (99.8%) の高反射ミラーを採用しフィネス>400を実現しています。

■オプション

・基本ユニットにはスキャンのためのピエゾスタックモジュール、高反射ミラー、およびフォトディテクタが含まれます。 ・HVスキャンジェネレータ,ファイバー入力用アダプタ ・交換用ミラーおよびミラー交換キット ・FC/APCアダプター付きファイバーコネクター ・ミラー交換キット ・フォトダイオード交換キット (visible / NIR / IR range) ・カスタムフィネス仕様 ・SC110：スキャンユニット ・miniScan：独立型スキャンジェネレータ+PDアンプ

  • シリーズ

    ファブリペロー干渉計

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2025年5月29日にレビュー済み

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ファブリペロー干渉計 品番6件

フィルター

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商品画像 品番 価格 (税抜)
FSR
入力開口径
ファブリペロー干渉計-品番-FPI 100-0400-3V0

FPI 100-0400-3V0

要見積もり

380-430nm

1GHz

> 200

400

2.5MHz

7mm

ファブリペロー干渉計-品番-FPI 100-0500-3V0

FPI 100-0500-3V0

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400

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使用用途

#表面形状解析 #厚み測定 #平坦度評価 #光学特性評価 #材料研究 #精密加工検査 #波面解析 #振動解析 #光通信評価

分解能 nm

0 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 2,500

測定範囲 mm

0 - 5 5 - 50

波⻑レンジ nm

300 - 400 400 - 700 700 - 1,300 1,300 - 1,800

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会社概要

トプティカ社はドイツ・ミュンヘンで誕生した理化学研究分野および産業分野向けにハイエンドのレーザー発振器を開発・製造する専業メーカです。製品ポートフォリオには波長可変半導体レーザー、超短パルスファイバーレーザー、テラヘルツ...

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  • 本社所在地: 東京都

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