距離・厚さ非接触測定用高精度 白色光干渉計 interferoMETER Micro-Epsilon Japan株式会社
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この製品について
マイクロエプシロン社の革新的な白色光干渉計は、高精度な距離・厚み測定におけるベンチマークを打ち立てています。サブナノメートルの分解能で安定した測定結果をもたらし、比較的広い測定範囲と長いオフセット距離を提供しています。
■特徴
・ 絶対の距離とマルチピーク距離測定 ・ 距離に依存しない厚みと重層厚み測定 ・ クラス最高の<30ピコメートルの分解能と卓越した直線性 ・ 新しい評価アルゴリズムと能動温度補正による高い信号安定性 ・ Webインターフェースを介した容易なパラメータ化 ・ バス接続も可能な多数のインターフェース■三機種の干渉計をご用意
・高精度な工業用距離測定のためのIMS5400-DS ・正確な厚み測定のためのIMS5400-TH ・ピコメートル分解能の距離測定に対応した真空環境に適したIMS5600-DS-
シリーズ
距離・厚さ非接触測定用高精度 白色光干渉計 interferoMETER
距離・厚さ非接触測定用高精度 白色光干渉計 interferoMETER 品番4件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定範囲 | 直線性 | 分解能 | 測定レート |
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interferoMETER 5400-DS |
要見積もり | 2.1mm | < ±50 nm | < 1 nm | 最大6 kHz | |
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interferoMETER 5400-TH |
要見積もり |
45 mm ±3.5 mm 70 mm ±2.1 mm |
< ±100 nm | < 1 nm | 最大6 kHz | |
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interferoMETER 5600-DS |
要見積もり | 2.1mm | < ±10 nm | < 30 pm | 最大6 kHz | |
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interferoMETER 5420 |
要見積もり | - | 20 µm | 1 nmまで | - |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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