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過酷な環境でのEMF測定ソリューション 光プローブ・光電界センサ　eoProbe-eoProbe
過酷な環境でのEMF測定ソリューション 光プローブ・光電界センサ　eoProbe-ウェーブクレスト株式会社

過酷な環境でのEMF測定ソリューション 光プローブ・光電界センサ　eoProbe
ウェーブクレスト株式会社

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この製品について

■特徴

・Kapteosシステムは、ボッケルス効果を利用した電気光学プローブとハイエンドコンバータにより革新的な電界測定を実現しました。 ・その測定性能は、数MV / mを超え、40 Hz〜100 + GHzの超高帯域幅や、水中などの非常に過酷な環境で最も高度な機能を提供します。

■電場ベクトルの包括的測定

・電ベクトル電界の3つの成分と位相を測定することができます。 ・また縦方向,横方向タイプの2種類のプローブにより、eoSensorコンバータと使用することで3軸のベクトルを正確に識別・測定することができます。

■非侵襲的測定

・金属部品 (メタルフリー) を使用しないセンサの能動部品は基本的にクリスタルです。 ・測定信号は光ファイバーリンク内のレーザーによって送信されるので、次のような利点があります。 ・測定した電界は従来のアンテナベースのプローブと違い、測定に影響を与えません。 ・プローブとコンバータは最大100m離れていても構いません。 ・特にGHz周波数においての超低損失 ・放射電磁界の影響を受けない正しい測定を保証 ・MRIシステム内の動物組織、果物または野菜の内側の電界測定も可能です。

■ターゲット・アプリケーション

・比吸収率 (SAR) の評価 ・中高電圧 (HV) 電気部品 ・アンテナ ・プラズマ ・磁気共鳴イメージング (MRI)

  • シリーズ

    過酷な環境でのEMF測定ソリューション 光プローブ・光電界センサ　eoProbe

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過酷な環境でのEMF測定ソリューション 光プローブ・光電界センサ　eoProbe 品番1件

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