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半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ) -GATS-7760 (ユニットタイプ)
半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ) -ニデックアドバンステクノロジー株式会社

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ)
ニデックアドバンステクノロジー株式会社

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この製品について

■特徴

・FC-CSP/大型個片基板向け高精度検査装置 ・チップレットなどの大型・多ピン基板対応 ・ダブルテーブル/シャトル式 ・ LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能です ・総合アライメント精度±2.5μm ・個片仕様

  • シリーズ

    半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ)

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半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) ワークサイズ ワーク厚み KOZ (MIN) 総合アライメント精度 装置サイズ (想定)
半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置 アドバンスドパッケージ対応導通絶縁検査装置 GATS-7760 (ユニットタイプ) -品番-GATS-7760 (ユニットタイプ)

GATS-7760 (ユニットタイプ)

要見積もり

□15~120mm

0.5~2.0mm

0.0mm

+/-2.5μm

(W) 1,530 (D) 2,160 (H) 1,990mm (Without L/UL)

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

日本電産リード株式会社は、半導体パッケージやプリント基板の検査装置などの製造開発・販売を主力事業とする企業です。 検査機器の心臓部を担う高性能ICとソフトウェアや、細かい単位で加工・組立を行う装置ハードウェア、さらに...

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  • 本社所在地: 京都府
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