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JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF) -JSX-1000S
JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF) -日本電子株式会社

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)
日本電子株式会社

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JSX-1000Sは、タッチパネルを採用した簡単に元素分析ができる蛍光X線分析装置です。一般的な定性定量分析 (FP法・検量線法) や、RoHS元素のスクリーニング機能を備えています。ハードウェア・ソフトウェア両面の各種オプションにより、さらに幅広い分析が可能です。 ◾️特長 ・蛍光X線分析原理 試料にX線を照射すると、試料に含まれる元素特有のエネルギーを持つX線が発生します。これを蛍光X線と呼びます。この蛍光X線を半導体検出器で検出し、エネルギー (横軸) から元素の種類をX線の強さ (縦軸) から元素の濃度を算出する分析法です。 ・ソリューションの提供 ソリューションアプリは、予め登録されたレシピに従い目的の測定分析を自動実行します。ソリューションアプリリストから目的のソリューションアイコンを選択するだけで簡単に分析結果が得られます。多種多様な分野において簡単分析を提供します。 ・新開発のスマートFP (ファンダメンタルパラメータ) 法 新開発のスマートFP (ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を準備することなく、かつ自動的に残成分および厚さの補正を行った高精度な定量結果が得られます。 (残成分補正および厚さ補正機能は、有機物試料のみに対応しています) ・スマート・アシスト (YOKOGUSHI提案) JEOL製品に対して、JSX-1000Sは分析のプレチェック、クロスチェック機として最適 砂に含まれるZrEDXRF→SEMEDS (YOKOGUSHI提案) ジルコニウム (Zr) は海浜や河川の砂に含まれています。しかし、全ての砂にZrが含まれているわけではありません。XRFを用いることで砂粒群にZrが含まれているかを迅速に判別することができます。また、SEM EDSを利用するとZrが存在する砂粒を特定することができます。
XRFとSEM EDSを併用することで、目的元素の所在を絞り込む事ができます。 ・シンプルオペレーション 試料をセットし、画面をタッチするだけの簡単な操作です。分析結果表示／スペクトル表示の切り替えもタッチ操作で、タブレットPCやスマートフォンのような感覚で操作できます。 (キーボート・マウスによる操作も可能です) 。セット＆タッチのシンプルオペレーションシンプルで直感的な操作性のGUI

  • シリーズ

    JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)

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JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 検出元素範囲 X線発生装置 ターゲット 一次フィルタ 最大9種 自動交換 コリメータ 3種 自動交換 検出器 試料室サイズ 試料室雰囲気 試料室観察機構 操作用コンピュータ 分析用ソフトウェア 日常チェック用ソフトウェア
JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF) -品番-JSX-1000S

JSX-1000S

要見積もり

Mg~U
F~U (オプション)

5~50 kV , 1mA

Rh

OPEN, ND, Cr, Pb, Cd (標準)
Cl, Cu, Mo, Sb (オプション)

0.9mm, 2mm, 9mm

シリコンドリフト検出器

300mmφ×80mmH

大気/真空 (オプション)

カラーカメラ

Windows ®タッチパネル式デスクトップパソコン

定性分析 (自動定性、KLMマーカ
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会社概要

日本電子株式会社は、1949年5月に電子顕微鏡を製造する会社として創業以来、電子顕微鏡などのナノテク分野で世界トップレベルの計測機器を開発しています。 本社は東京都昭島市にあり、企業の研究部門から産業機器分野まで、多く...

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