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高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) -AFIT860CE
高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) -アキム株式会社

高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ)
アキム株式会社

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この製品について

■概要

音叉型水晶振動子の電気特性検査、テーピングをターレット搬送と検査インデックスにより高速に行う装置です。

■特徴

・ターレット式搬送装置と検査インデックステーブルの組合せにより、タクト0.3秒を実現しました。 ・検査インデックステーブルには回転搬送中に周波数、インピーダンスを連続測定する検査基板を搭載しました。 ・世界最速レベルでありながら、省スペース化、 省エネルギー化を実現しています。

  • シリーズ

    高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ)

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高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 対象ワーク 検査内容 サイクルタイム 外形寸法
高速検査・テーピング装置 AFIT860CE (セラミックタイプ) -品番-AFIT860CE

AFIT860CE

要見積もり

音叉型水晶振動子

周波数・Ci測定・ドライブレベル

0. 3 sec/個

W1,400×D1,300×H1,700mm (モニタ、表示灯等除く)

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最大周波数

1 - 10 GHz 10 - 20 GHz 20 - 30 GHz 30 - 40 GHz 40 - 50 GHz

周波数精度

0 - 0.1 ppm 0.1 - 0.3 ppm 0.3 - 0.5 ppm

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