卓上走査型電子顕微鏡 Phenomシリーズ
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この製品について

■概要高画質のSEM画像観察と高度な画像解析が可能です。SEM初心者でも解りやすく簡単に操作できます。ナビカメラで試料全体を見ながらのSEM観察位置を確認。

特徴
■CeB6をもっと美しく高画質観察を叶える、高輝度・長寿命のCeB6電子銃を採用。圧倒的な美しさを大画面フルスクリーンで体感できます。

■反射電子像高倍率で鮮明な反射電子像の観察が可能です。チャージしやすい非導電性試料もコーティング無しで高画質観察が可能です。

■二次電子像 (オプション) 高感度二次電子検出器を使用しており、高倍率で高精細な二次電子像の観察が可能です。サブミクロン粒子や材料表面の微細構造も捉えることが可能です。

■高輝度・長寿命のCeB6電子銃を採用卓上SEMでは唯一、高画質観察が可能なCeB6 (六ホウ化セリウム) 電子銃を採用しています。

■どこでも美しい 振動があっても像が乱れません試料ホルダが、電子銃を含めたレンズ系の鏡筒に固定されるため、振動があってもSEM像が乱れません。高層ビルや幹線道路沿い、工場のライン沿いなど、振動のある場所でも除振台は不要です。どんな場所でも最高性能を発揮します。

観察条件を自由自在に設定
■サンプルや観察目的に応じて加速電圧や電流値等の観察条件を設定可能です。・加速電圧：5 kV、10 kV、15 kV (アドバンス：4.8～20.5 kV) 
・スポットサイズ：4段階 (アドバンス：カスタム設定) 
・低エミッション電流モード

■反射電子像＋二次電子像をMix試料の「組成情報」と「表面の微細な凹凸」を同時に観察できます。反射電子像、二次電子像、Mix像の切り替えはワンクリックで可能です。

■革新的なユーザーインターフェースで、もっと速く、もっとスマートにユーザーインターフェースが新しく生まれ変わりました。試料導入から僅か30秒でSEM像を表示、そのままバリアフリーで分析へ。

■ナビゲーションシステムで 「迷わない」観察位置を常に確認でき、迷いません。

■自動ステージで 「瞬時に移動」画面をワンクリックするだけで次の観察位置へ移動できます。

■リビジット機能で 「すぐ戻れる」気になる場所を登録、戻って再観察、再分析が可能です。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
卓上走査型電子顕微鏡 Phenomシリーズ

取扱企業
大木理工機材株式会社

カテゴリ

観察機器

電子顕微鏡

観察機器

透過型電子顕微鏡

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卓上走査型電子顕微鏡 Phenomシリーズ品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	メーカー	電子銃	反射電子	二次電子 (オプション)	光学ナビゲーション倍率	電子顕微鏡倍率	デジタルズーム	反射電子検出器	二次電子検出器	EDS元素分析	画像保存形式	自動ステージ	試料サイズ	顕微鏡本体	真空ポンプ	電源ボックス	PC	モニタ	電源	解析ソフトウェア標準	解析ソフトウェアオプション
	Phenom ProX	要見積もり	サーモフィッシャー (ｼﾞｬｽｺｲﾝﾀｰﾅｼｮﾅﾙ取扱)	CeB6電子銃	8 nm	6 nm	27 ~ 160 倍 (カラー)	160 ~ 350,000 倍	12 倍	標準	オプション	標準	JPEG、 TIFF、 PNG	コンピュータ制御モーター駆動 XY ステージ	直径： 25 mm ( オプション： 32 mm) 高さ： 35 mm ( オプション： 100 mm)	286 (W) × 566 (D) × 495 (H) mm、 50 kg	145 (W) × 220 (D) × 213 (H) mm、 4.5 kg	260 (W) × 300 (D) × 80 (H) mm、 2 kg	92.5 (W) × 305.6 (D) × 343.5 (H) mm、 8 kg	531.5 (W) × 250 (D) × 515.4 (H) mm、 6.7 kg	単相 AC 100 V、 50 / 60 Hz、最大 348 W	自動画像マッピング	パーティクルメトリックソフトウェア (粒子解析、細孔解析) ファイバーメトリックソフトウェア (繊維解析) 3Dラフネスソフトウェア (3D画像の構築、粗さ計測)