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シリーズ
FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
Metoree経由で見積もり
2025年7月9日にレビュー済み
顧客対応への満足度
迅速なご返信、別商品のご提案までスムーズに対応いただきました。
初回対応までの時間への満足度
36.22時間
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ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT800シリーズ
コスモトレーディング株式会社
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次の条件に該当する商品を1件表示しています
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 空間分解能 | 観察視野 | 倍率 | エネルギー分解能 | Kineticエネルギー | 占有面積 | スタートエネルギー | ベースプレッシャー | LEEMスポットサイズ | 電子ビームのエネルギー幅 | 試料ステージの位置再現精度 | 最高試料加熱温度 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
FE-LEEM P90 |
要見積もり |
保証値5nm (最高分解能4.2nm) |
800nm~100μm |
400~50,000倍 |
分光測定 <250meV |
通常15keV、最小2keV |
1.6×2.3m (高さ2.3m) |
最大1,000eV |
2×10^-10mbar |
<40μm |
<300meV |
~500nm |
最大1,500K (イメージング時) |
電子顕微鏡をフィルターから探すことができます
使用用途
#元素分析 #マッピング #自動測定 #3D分析 #低真空観察 #異物分析 #高分解能観察 #試料作製 #スクリーニング分析観察原理
透過型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 反射電子顕微鏡 走査透過電子顕微鏡検出方式
二次電子検出型 反射電子検出型 X線分析型電子源タイプ
熱電子放出型 電界放出型 シュットキー型試料環境対応
低真空型 クライオ型 環境制御型分解能 nm
0 - 1 1 - 2 2 - 16加速電圧 kV
0 - 1 1 - 5 5 - 10 10 - 15 15 - 30倍率 倍
1 - 10 10 - 25 25 - 50 50 - 100 100 - 200 200 - 100,000 100,000 - 1,000,000 1,000,000 - 6,000,000ステージ移動範囲 °
-15 - -10 -10 - 0 0 - 70 70 - 90最大試料寸法 mm
30 - 80 80 - 200 200 - 1,500プローブ電流 nA
0 - 10 10 - 100 100 - 500返答率
100.0%
返答時間
29.8時間
企業レビュー
5.0
