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仕事関数測定システム (APSシリーズ) -APS01
仕事関数測定システム (APSシリーズ) -株式会社東京インスツルメンツ

仕事関数測定システム (APSシリーズ)
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■概要

大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを非接触で測定します。励起光 (3.4~7eV) を照射し、試料表面に接近させたΦ2mmのプローブで光電子/大気イオンを検出します。類似した測定手法の光伝導度は光学バンドギャップを計測しますが、光電子分光は真空準位を超えた電子を検出し仕事関数の絶対値を評価します。光源モジュールを追加した場合、励起エネルギー範囲を紫外から近赤外域まで拡大可能です。光電子の検出部にケルビンプローブのチップを使用しており、金をリファレンスにしたケルビンプローブ法による相対仕事関数測定も行えます。有機ELや有機太陽電池のみならず、様々な材料の評価に利用可能です。

■特長

・光電子収量分光法 (PYS) による仕事関数の絶対値測定 ・ケルビンプローブによる相対仕事関数測定も可 ・UV光源エネルギー範囲 3.4~7.0 eV (176~360 nm) ・大気中・非接触測定 ・イオン化ポテンシャル (EV) 、フェルミ準位 (EF) を1台で測定 (オプションで、バンドギャップ (EG) 測定可)

■主な用途

・イオン化ポテンシャル・状態密度測定 ・有機EL材料の評価 ・ペロブスカイトなど有機太陽電池材料の評価 ・薄膜の膜質評価など

■オプション

・光源モジュール (ハロゲン光源/LED) ・波長可変光源モジュール (400~1,000 nm)

■測定原理

・紫外光を照射し、試料表面に接近させたプローブで光電子/大気イオンを検出 ・紫外光のエネルギーを掃引し、光電子/大気イオン放出が始まる閾値が仕事関数

■高精度LUMO準位について

逆光電子分光装置 (エイエルエステクノロジー社製品) との複合化可能。高精度LUMO準位も測れます。

  • シリーズ

    仕事関数測定システム (APSシリーズ)

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仕事関数測定システム (APSシリーズ) 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) チップ材料 / 直径 仕事関数分解能 付属品
仕事関数測定システム (APSシリーズ) -品番-APS01

APS01

要見積もり

金 / 2 mm

50 meV (< 3meV /ケルビンプローブモード)

観察用カメラ、小型モニター、オシロスコープ、静電シールドカバー

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  • 本社所在地: 東京都
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