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シリーズ
仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。 走査型ケルビンプローブシステム (SKPシリーズ)取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の製品58点中、注目ランキング上位6点
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次の条件に該当する商品を1件表示しています
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | チップ材料 / 直径 | 仕事関数分解能 | 最大走査領域 (mm) | 走査パターン | 付属品 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
KP020 |
要見積もり |
金 / 2 mm |
< 3 meV |
点測定 |
|
観察用カメラ、小型モニター、オシロスコープ、静電シールドカバー |
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)の中で同じ条件の製品
使用用途: 電気特性測定
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)をフィルターから探すことができます
使用用途
#ラマン測定 #材料評価 #電気特性測定 #ダイナミクス測定 #表面形状観察 #欠陥評価 #研究開発 #非破壊測定 #ケミカルイメージング #マッピングXYスキャナレンジ µm
10 - 70 70 - 100 100 - 120Zスキャナレンジ μm
1 - 5 5 - 15 15 - 30分解能 nm
0 - 1 1 - 100真空度 nPa
0 - 100 100 - 50,000到達温度 K
0 - 1 1 - 6 6 - 101振動ノイズ μm/s
0 - 1 1 - 7XYステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200 200 - 300 300 - 400Zステージ駆動範囲 mm
-12 - 0 0 - 20 20 - 200返答率
100.0%
返答時間
22.7時間
![走査型プローブ顕微鏡 (SPM) AFM-IR 装置 AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置[光誘起力顕微鏡]-株式会社日本レーザー](https://metoree.s3.ap-northeast-1.amazonaws.com/img/products-new/30024292024050560.png)
