分光計測高速スキャンニング、ピコ秒時間分解イメージング、多機能ソフトウェア付属蛍光寿命イメージング測定システム-蛍光寿命イメージング測定システム

分光計測高速スキャンニング、ピコ秒時間分解イメージング、多機能ソフトウェア付属蛍光寿命イメージング測定システム
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この製品について

■製品概要ドイツ ベッカーアンドヒックル社 "製蛍光寿命イメージング (FLIM) システム" は、生細胞や無機材料の発光寿命の空間的分布をマッピングすることができるシステムです。

発光寿命のイメージング技術は、局所濃度、励起光強度や波長、退色などに影響を受けない定量的に優れた手法です。細胞生物学や薬学の世界では、FLIMは幅広い生物物理現象のイメージング技術として使用されています。蛍光やりん光の酸素イメージングやイオンイメージング、 蛍光共鳴エネルギー移動 (FRET) による、たんぱく質間の相互作用のイメージングや蛍光相関分光測定 (FCS) に非常に適しております。

システムは、高速ガルバノスキャナー、ピコ秒パルスレーザー、高感度GaAsPハイブリッド検出器、時間相関単一光子計数 (TCSPC) モジュール、解析用ソフトウェアで構成されます。また、お手持ちの共焦点レーザー顕微鏡にTCSPC機能をアップグレードしてシステムを構築することも可能です。部品単位からシステムまで幅広くご提案させて頂きます。

■特長・高速レーザースキャンニング 100 ms～数秒/フレームレート
・多機能ソフトウェア付属
・ピコ秒ダイオードレーザー、波長可変レーザー搭載
・高感度GaAsPハイブリッド検出器採用
・時間相関単一光子計数 (TCSPC) 方式
・サポート体制完備

■用途・ピコ秒時間分解蛍光寿命測定
・蛍光寿命イメージング測定 (FLIM) 
・多光子励起FLIM
・2波長同時FLIM
・多波長 (16チャンネル) 同時FLIM
・Z軸断層FLIM
・連続測定FLIM (Time-series) 
・近赤外FLIM
・りん光寿命イメージング測定 (PLIM) 
・蛍光相関分光測定 (FCS) 