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光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム-株式会社東京インスツルメンツ

光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム
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この製品について

■高速MCP位置/時間検出システム

MCP検出器とディレイライン読出しによる電子、イオン、高エネルギーフォトンの検出。デジタル出力装置により位置・時間の同時計測、高速時間分解能

■製品概要

高感度MCP検出器と独自のディレイラインアノードを組合わせたフォトンカウンティングレベルの微弱な電子、イオン、X線、UV、中性子の高速位置/時間検出システムです。TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測が可能です。

■ディレイラインアノード動作原理

ディレイラインアノード検出器では導線が90°に交差して (HEXタイプでは60°に交差して) 巻かれています。MCPで変換された二次電子が導線に当たると、その位置から導線の両端に向かって電荷が流れます。二次電子が当たった位置によって、導線の両端に電荷が到達する時間が異なり、この時間差が位置情報となります。 HEXシリーズでは3本の導線が巻かれているので、タイミング間隔が非常に狭い (10ns以下) multi hitの場合や、センターホール付の場合で位置情報を精度よく検出します。

■特長

・独自のディレイラインアノード方式 ・フォトンカウンティングレベルの微弱荷電粒子の位置/時間測定 ・DLDタイプ (2層ディレイライン) とHEXタイプ (3層ディレイライン) ・TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測可能 ・有効検出面積40mm、80mm、120mm、150mmから選択 ・DLDタイプはマルチパルスペア分解能15 nsから10 ns ・HEXタイプは10 ns以下分解能 ・UHV対応可

■用途

・UV、X線粒子イメージング ・質量分析 (TOF、SIMS) ・電子顕微鏡 (PEEM、TOF-PEEM) ・マルチフラグメントイメージシステム ・電子分光 ・残留ガスビームプロファイルモニター ・材料科学 (RBS、RHEEM、X-ray及び中性子回折) など

  • シリーズ

    光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム

  • 利用シーン

    電子・電気機器業界用

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光検出器・光電子分光用アナライザ X線/電子線 (CCD, MCPなど) 高速MCP位置/時間検出システム-品番-DLD40

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