■特徴・半導体レーザの縦モード分析に最適
・各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長：330～3,000nm
・FSR:1GHz
・フィネス > 200 (典型値 > 400)

コンフォーカル・ファブリペロー型干渉計とディテクタユニットを丈夫でコンパクトなアルミ製ハウジングに一体化したスキャニング型干渉計です。CW光のスペクトル解析手法として確立されている走査型ファブリペロー干渉計と高分解能で簡単操作を可能にするコンフォーカル光学系の利点を一体化したスぺクトルアナライザとして使用頂けます。

波長範囲330～3,000nmにおいて各種のミラーセットとフォトディテクターを用意しています。標準で反射率 (99.8%) の高反射ミラーを採用しフィネス>400を実現しています。

■オプション・基本ユニットにはスキャンのためのピエゾスタックモジュール、高反射ミラー、およびフォトディテクタが含まれます。
・HVスキャンジェネレータ,ファイバー入力用アダプタ
・交換用ミラーおよびミラー交換キット
・FC/APCアダプター付きファイバーコネクター
・ミラー交換キット
・フォトダイオード交換キット (visible / NIR / IR range)
・カスタムフィネス仕様
・SC110：スキャンユニット
・miniScan：独立型スキャンジェネレータ+PDアンプ

型番
FPI 100-0355-3V0

シリーズ
ファブリペロー干渉計

取扱企業
トプティカフォトニクス株式会社

カテゴリ

測定機器

干渉計

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ファブリペロー干渉計 FPI 100-0355-3V0の性能表

商品画像	価格 (税抜)	波長レンジ	FSR	フィネス (仕様)	フィネス (典型値)	分解能 (典型値)	入力開口径
	要見積もり	330-380nm	1GHz	> 200	400	2.5MHz	7mm

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光源方式

レーザ白色光

光路構成

マイケルソンファブリペローサビーヌ

測定対象

変位測定型表面形状型薄膜厚測定型

分解能 nm

0 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 2,500

測定範囲 mm

0 - 5 5 - 50

波⻑レンジ nm

300 - 400 400 - 700 700 - 1,300 1,300 - 1,800

測定波⻑ nm

400 - 450 450 - 700 700 - 800

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