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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus400-株式会社リガク

ZSX Primus400 | 波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus400
株式会社リガク

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手法

波長分散型蛍光X線分析 (WDXRF)

用途

固体、粉末、合金および薄膜の元素分析

主要コンポーネント

3 / 4 kW密閉型X線管、r-θステージ

制御 (PC)

外部PC、MS Windows® OS、ZSX Guidanceソフトウェア

本体寸法

1,376 (W) x 1,439 (H) x 890 (D) mm

質量

約 800 kg (本体)

電源

三相 200 VAC 50/60 Hz, 8 kW

この製品について

■多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置

大径試料 (φ400mm×50mm) をそのまま測定できるほか、質量30kgまでのサンプルを受け入れ、スパッタリングターゲット、磁気ディスクの分析、多層フィルムの計測、または大型サンプルの元素分析に最適です。多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置です。 ZSXPrimusシリーズで定評あるソフトウェア「ZSXGuidance」の搭載により、優れた操作性・メンテナンス性を実現。ヒューマンエラー防止機能を備え、分析初心者でも正確な分析結果を得られるようサポートします。内蔵する高解像度カメラで試料の画像を観察しながら測定位置指定し、ポイント・マッピング測定を行うことも可能です。軽元素・超軽元素も測定対象とした高精度なマッピング測定への要求に応えます。 特長

■大径試料、異型試料、多試料に対応する多彩な試料アダプター

最大φ400mm×50mmの試料をそのまま測定できます。貴重な試料を小さく加工する必要はありません。多数の試料を同時にセットできる試料アダプターや、異形試料に対応できる試料アダプターも用意しています。

■測定可能元素Be～U

独自の真空度制御機構APC (AutoPressureControl) により、測定部の真空度を安定化し、超軽元素を含む軽元素を高精度に測定することができます。

■波長分散型システムによるポイント・マッピング分析

r-θ駆動の試料ステージを採用。内蔵の高精度カメラ (500万画素) で分析部位を確認しながら、波長分散方式の優れたスペクトル分解能を生かし、超軽元素まで100マイクロメートルのマッピング位置分解能による正確なポイント・マッピング測定が可能です。

■ZSXGuidanceソフトウェア

ビジュアルな画面を使って高度な分析を実行できる、初心者にも優しいソフトウェアです。定量アプリケーションの作成をサポートする評価プログラムなど蛍光X線分析技術に関するノウハウが各所に組み込まれています。

  • 型番

    ZSX Primus400

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波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus400 ZSX Primus400の性能表

商品画像 価格 (税抜) 手法 用途 主要コンポーネント 制御 (PC) 本体寸法 質量 電源 オプション テクノロジー
波長分散型蛍光X線分析装置 走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus400-品番-ZSX Primus400 要見積もり 波長分散型蛍光X線分析 (WDXRF) 固体、粉末、合金および薄膜の元素分析 3 / 4 kW密閉型X線管、r-θステージ 外部PC、MS Windows® OS、ZSX Guidanceソフトウェア 1,376 (W) x 1,439 (H) x 890 (D) mm 約 800 kg (本体) 三相 200 VAC 50/60 Hz, 8 kW

追加分析用クリスタル、各種サンプルホルダー、カメラ

走査型 波長分散蛍光X線分析 (WDXRF)


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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

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装置構成

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検出器

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会社概要

株式会社リガクは、X線分析装置メーカーです。
リガクはX線分析に要する基礎技術と要素部品を独自に開発しており、X線源、光学機器、検出器等の主要な要素技術について世界のトップ水準にあります。

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