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蛍光X線分析装置 EA1400-株式会社日立ハイテクサイエンス

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100.0%

返答時間

123.8時間

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測定元素

Na (11) ~U (92)

雰囲気

大気仕様 (Al~U) ,真空仕様 (Na~U) *オプション

X線照射方式

下面垂直照射型

X線源

小型空冷式X線管球 (Rhターゲット)

検出器

新型SDD

分析領域

1、3、5 mmφ

一次X線フィルタ

5モード自動切換

試料室寸法

304 (W) ×304 (D) ×110 (H) mm

装置寸法

520 (W) ×600 (D) ×445 (H) mm

重量

69 kg

電源

AC100~240V (50/60Hz) /190VA

サンプルチェンジャ

可能 (12検体) *オプション

この製品について

RoHS対応をはじめ、スラグ、セメントなどの工程管理や品質管理、また、混入異物や異常部などの故障解析や調査分析など、多岐にわたるアプリケーションで高スループット分析を提供します。 特長

■高感度高スループット測定

高エネルギー側の量子効率を向上させた、新しいシリコンドリフト検出器 (SDD) を搭載。CdKα,PdKα,BaKαなどのエネルギー帯に対し、高感度で高スループットな測定を実現します。

■高分解能・高計数率を実現

高分解能・高計数率を実現したSDDにより、EA1400は従来機よりも主成分に近接する微量元素の 検出性能に優れ、金属種の品質管理などに威力を発揮します。

■真空システム+新開発SDD

真空システムと新たなSDDの組み合わせにより軽元素の感度が大幅に向上したため、軽元素を含むスラグやセメントなどの工程管理や品質管理の強化に貢献します。

■RoHS対応:黄銅中のCdスクリーニング分析をさらに高スループット化

黄銅など金属に含まれる微量のCdの測定時間において、当社従来機 (EA1000VX) に比べ2倍以上のスループットを実現します。

■製錬炉の工程管理:高感度によりスラグの成分測定で迅速・高精度を実現

スラグの主要成分Si,Ca,Al,Mgの組成情報から製錬炉 (工程) の状態管理を行います。特に、新型SDDによりMg等の軽元素の定量精度が向上しました。

■品質管理:製品に付着・埋没した異物を検出

X線斜方照射方式では測定が難しい凹凸のある母材に付着した異物に対して、EA1400の試料同軸観察・X線垂直照射方式では異物を取り出すことなく、異物由来の元素を検出し物質同定することができます。

  • 型番

    EA1400

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蛍光X線分析装置 EA1400 EA1400の性能表

商品画像 価格 (税抜) 測定元素 雰囲気 X線照射方式 X線源 検出器 分析領域 一次X線フィルタ 試料室寸法 装置寸法 重量 電源 サンプルチェンジャ
蛍光X線分析装置 EA1400-品番-EA1400 要見積もり Na (11) ~U (92) 大気仕様 (Al~U) ,真空仕様 (Na~U) *オプション 下面垂直照射型 小型空冷式X線管球 (Rhターゲット) 新型SDD 1、3、5 mmφ 5モード自動切換 304 (W) ×304 (D) ×110 (H) mm 520 (W) ×600 (D) ×445 (H) mm 69 kg AC100~240V (50/60Hz) /190VA 可能 (12検体) *オプション

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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この商品の取り扱い会社情報

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123.8時間

会社概要

株式会社日立ハイテクサイエンスは2000年に設立された、日立ハイテクグループのメーカーです。 国内外の企業に分析化学の各領域で使用する装置を販売しています。 1947年に日立グループの商事会社として設立後、グループ会社...

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  • 本社所在地: 東京都

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