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ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 Zetium-スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル 事業部

Zetium | ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 Zetium
スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル 事業部

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ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置 (XRF) は、固体、液体、粉末など、さまざまな物質の元素を分析する事が可能です。中でも波長分散型はより高精度を求められる分析に適しております。当社の波長分散蛍光X線分析装置 (WDXRF) Zetiumは、最も厳しい品質管理と研究開発用途に対応するよう設計され、BeからAmの元素領域をより高感度に分析できる革新的な機能を搭載しています。 WDXRFのプラットフォームに、エネルギー分散蛍光X線分析装置 (EDXRF) の技術を統合可能なSumXcore技術が組み込まれています。この独自の組み合わせは、さまざまな環境での分析能力、速度、およびその柔軟性においてZetiumを比類なき存在にしています。  

■波長分散とエネルギー分散の機能を搭載可能な唯一の蛍光X線装置 (XRF) -Zetium

マルバーン・パナリティカルの蛍光X線装置 (XRF) Zetiumは、最大 5 種類まで選択可能な検出器の組み合わせにより、様々な分析ニーズに対して最適な高感度測定を実現しています。光読み取り式エンコーダ搭載ゴニオメータ (DOPS) 採用により高い角度再現性を実現、更に新開発ドリフトフリーX線管球との組み合わせにより、長期に渡り良質な分析精度を維持する事が可能です。 集塵機能を搭載した予備排気機構により、装置内を常にクリーン保つことができ、簡単なメンテナンスにより装置のダウンタイムを極限まで減らすとともに、専用ソフトウェアによる装置状態の常時モニター機能でトラブルの未然防止が可能です。

  • 型番

    Zetium

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使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

測定原理

波長分散型 エネルギー分散型 回折型 蛍光型

分析対象

元素分析型 結晶構造解析型

測定対象形状

バルク対応型 微小領域対応型

装置構成

卓上型 据置型

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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会社概要

1948年設立、X線回折装置や蛍光X線装置などを製造、販売するパナリティカル社（オランダ）と1967設立、粒子計測装置などを製造・販売するマルバーン社（イギリス）という長い歴史を持つ２つのメーカーが１つになり、誕生したの...

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  • 本社所在地: 兵庫県

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