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XAFS分析ビームライン-株式会社光子発生技術研究所

XAFS分析ビームライン | XAFS分析ビームライン
株式会社光子発生技術研究所

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光源

MIRRORCLE-CV4

X線エネルギー

10~25keV

分析可能原子

K殻：Ga (31) ~In (49) 、L殻：Tl (81) ~U (92)

エネルギー分解能

ΔE/E = 5,000

試料形状

固体、薄膜、溶液、粉末

試料厚さ

数μm~数十μm

試料サイズ

10x30mm

この製品について

EXAFSで化学状態を分析します。XAFS (X線吸収端微細構造) は、特定原子付近の構造状態を知ることができ、材料分析等に用いることができます。EXAFSとNEXAFSの二種類の領域があり、EXAFSは、特定原子の周辺の動径分布を得ることができ、原子の種類や数を知ることができます。蓄電池材料や触媒開発に威力を発揮し、また環境化学物質の分析にも適しています。

  • 型番

    XAFS分析ビームライン

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XAFS分析ビームライン XAFS分析ビームラインの性能表

商品画像 価格 (税抜) 光源 X線エネルギー 分析可能原子 エネルギー分解能 試料形状 試料厚さ 試料サイズ
XAFS分析ビームライン-品番-XAFS分析ビームライン 要見積もり MIRRORCLE-CV4 10~25keV K殻：Ga (31) ~In (49) 、L殻：Tl (81) ~U (92) ΔE/E = 5,000 固体、薄膜、溶液、粉末 数μm~数十μm 10x30mm

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