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デスクトップ型膜厚計 XUV-エフ・アイ・テック株式会社

XUV | デスクトップ型膜厚計 XUV
エフ・アイ・テック株式会社

この製品について

■特徴

・低い検出限度、反復可能な高い精度、広くアップグレードできる測定などにより、研究開発に特に適合します ・軽元素でも高い精度で測定できる真空チャンバーおよび高性能のシリコンドリフト検出器搭載 ・プログラム可能なX、Y、Z軸により自動連続試験可能 ・交換可能なコリメーターやフィルターにより、さまざまな材料や測定条件の需要に対して調節可能 主な用途

■膜厚測定

・ナトリウムからの軽元素によるnmレベルの層 ・アルミニウムおよびシリコン層

■素材分析

・宝石の真贋や産地の決定 ・一般的な素材分析および科学捜査 ・高分解能微量分析

  • 型番

    XUV

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エフ・アイ・テック株式会社

会社概要

エフ・アイ・テック株式会社は、1968年に創業した、測定機器や潤滑剤の販売をしている会社です。 主な事業内容は、測定機器の販売です。ドイツにあるフィッシャー社の製品を中心に、ポケットサイズ、ハンディタイプ、蛍光X線方式...

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  • 本社所在地: 東京都

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