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返答率
100.0%
返答時間
24.0時間
ワークサイズ
最大200×200、Φ200 (mm)
最小検出粒径 (ベアSi PSL粒子)
0.15μm
使用レーザー／検出ユニット
405nm (青色レーザー) 及びフォトマル (PMT)
スキャン方式
X-Y
ワーク供給方法
マニュアル
装置サイズ (幅×奥行×高さ)
W490×D540×H870 (mm) P/C別
装置重量
50kg (P/C除く)
電源
AC100V 500W
メーカー名
YGK
型番
YPI－MNシリーズ
パーティクル検査装置 YPI－MN取扱企業
ファーストゲート株式会社カテゴリ
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パーティクルカウンターの製品148点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | ワークサイズ | 最小検出粒径 (ベアSi PSL粒子) | 使用レーザー／検出ユニット | スキャン方式 | ワーク供給方法 | 装置サイズ (幅×奥行×高さ) | 装置重量 | 電源 | メーカー名 |
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要見積もり | 最大200×200、Φ200 (mm) | 0.15μm | 405nm (青色レーザー) 及びフォトマル (PMT) | X-Y | マニュアル | W490×D540×H870 (mm) P/C別 | 50kg (P/C除く) | AC100V 500W | YGK |
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検出方式が光学式検出型の製品
パーティクルカウンターをフィルターから探すことができます
使用用途
#クリーンルーム #製薬工場 #半導体製造 #食品加工 #医療施設 #建築環境 #空調設備 #環境調査 #電子機器製造測定方式
連続測定型 断続測定型 単一粒子型 複数サイズ型対応範囲
微粒子対応型 中粒子対応型 大粒子対応型測定粒径サイズ μm
0 - 1 1 - 5 5 - 10 10 - 25 25 - 30 30 - 100計数効率 %
30 - 50 50 - 100 100 - 110サンプリング流量 L/min
1 - 3 3 - 100 100 - 110光源
レーザーダイオード 半導体レーザーゼロカウントレベル count/分
0 - 0.01 0.01 - 0.02 0.02 - 0.4使用環境温度 ℃
0 - 5 5 - 10 10 - 35 35 - 40使用環境湿度 %RH
20 - 30 30 - 70 70 - 90 90 - 100
